88条规则敲定:PCB电路板测试、检验及规范
称为“白点”(Measling)。另外当组装板外表所涂布的护形膜(Conformal Coating),其破裂也称为 Crazing。通常一般日用品瓷器,或瓷砖,在长时间使用老化后,也因与力的释放,而在表面上出现不规则的裂纹,亦称为 Crazing。
16、Crosshatch Testing十字割痕试验:
是对板面皮膜附着力的一种破坏性试验。系按ASTM D3359之胶带撕起法为蓝本而稍加改变,针对板面各种干湿式皮膜的附着力试验。采多刃口之割划刀在皮膜表面垂直纵横割划,切成许多小方块再以胶带紧压然后用力撕起。各方块切口平滑且全未撕脱者以予 5分,切口均有破屑又被撕起的方块在35~65% 之间者只给1分,更糟者为 0分。连做数次进行对比,其总积分即为皮膜附着力的评分数。
17、Dendritic Growth 枝状生长:
指电路板面两导体之间在湿气环境中,又受到长期电压(偏压)的影响,而出现金属离子性之树枝状蔓延生长,最后将越过绝缘的板材表面形成搭接,发生漏电或短路的情形,谓之“枝状生长”。又当其不断渗入绝缘材料中时,则称为Dendritic Migration 或 Dentrices。
18、Deviation 偏差:
指所测得的数据并不好,其与正常允收规格之间的差距,谓之 Deviation。
19、Eddy Current涡电流:
在PCB业中,是一种测量各种皮膜厚度的工作原理及方法,可测非磁性金属底材之非导体皮膜厚度(如铜面的树脂层或绿漆厚度)当在一铁心的测头(Probe)上绕以线圈,施加高频率振荡的交流电(100KHz~6MHz),而令其产生磁场。当此测头接触待测厚的表面时,其底金属层中(如铜)会被感应而产生“涡电流”,此涡电流的讯号又会测头所侦测到。凡表面非导体皮膜愈厚者,其阻绝涡电流的效果愈大,使测头能接受到的讯号也愈弱。反之膜愈薄者,则测头能接受到的讯号愈强。因而可利用此种原理对非导体皮膜进行测厚。一般可测铝材表面的阳极处理膜厚度,铜箔基板上的基材厚度,及任何类似的组合。一般电路系统中也会产生涡电流,但却为只能发热而浪费掉的无效电流。
20、Dish Down 碟型下陷:
指电路板面铜导体线路上有局部区域,因受到压合时不当的圆形压陷,且经蚀刻后又不巧仍留在线路上,称为“碟陷”。在高速传输的线路中,此种局部下陷处会造成阻抗值的突然变化,对整体功能不利,故应尽量设法避免。
21、Edge-Dip Solderability Test板边焊锡性测试:
是一种电路板( 或其它零件脚)焊锡性的简易测试法,可将特定线路的样板,在沾过助焊剂后,以测试机或手操作方式夹住,垂直慢慢压入熔融的锡池内,停留1~2秒后再以定速取出,洗净后可观察板子表面导体或通孔的沾锡性情形。
22、Eyelet 铆眼:
是一种青铜或黄铜制作的空心铆钉,当电路板上发现某一通孔断裂时,即可加装上这种“Eyelet”,不但可维持导电功能,亦可接受插焊零件。不过由于业界对电路板品质的要求日严,使得补加 Eyelet 的机会也愈来愈少了。
23、Failure 故障,损坏:
指产品或零组件无法达成正常功能之情形。
24、Fault 缺陷,瑕疵:
当零组件或产品上出现一些不合规范的品质缺点,或因不良因素而无法进行正常操作时,谓之Fault。
25、Fiber Exposure 玻纤显露:
是指基材表面当受到外来的机械摩擦、化学反应等攻击后,可能失去其外表所覆盖的树脂层(Butter Coat),露出底材的玻纤布,称为“Fiber Exposure”,又称为“Weave Exposure织纹显露”,在孔壁上出现切削不齐的玻纤束则称为玻纤突出(Protrusion)。
26、First Article 首产品:
各种零件或组装产品,为了达到顺利量产的目的,各已成熟的工序、设备、用料及试验检验等,在整体配合程度是否仍有瑕疵,而所得到的产品是否能够符合各种既定的要求等,皆应事先充分了解,使于量产之前尚有修正的机会。为了此等目的而试产的首件或首批小量产品,称为First Article。
27、First Pass-Yield 初检良品率:
制造完工的产品,按既定的规范对各待检项目做过初检后,已合格的产品占全数产品的比例,称为初检良品率(或称First Accept Rate ),是制程管理良好与否的一种具体指针。
28、Fixture 夹具:
指协助产品在制程中进行各种操作的工具,如电路板进行电测的针盘,就是一种重要的夹具。日文称为“治具”。
29、Flashover 闪络:
指板面上两导体线路之间(即使已有绿漆),当有电压存在时,其间绝缘物的表面产生一种“击穿性的放电”(Disruptive discharge)
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