基于FPGA的2M误码测试仪设计
接收接口
当HDB3码流从E1线缆经BNC接口进入,并通过一个1:2的变压器耦合至RTIP租RRNG输入管脚后,其接收模块将允许用户设置寄存器以匹配外部线路的阻抗。ET2154中的数据时钟恢复模块可从HDB3码流中恢复时钟和数据。从HDB3码流中恢复出时钟和数据可通过高倍采样来实现,首先由外部提供一个2.048 MHz的时钟信号,然后由芯片内部PLL将它16倍频到32.768 MHz 。即先对每位HDB3码进行16倍的采样,然后由时钟恢复系统利用16倍的采样时钟来恢复时钟和数据。其E1信号接收示意图如图2所示。
正常情况下(RTIP,RRING有信号输入),在RCK(接收方向恢复时钟)管脚输出恢复后的时钟信号。而当ET2154被配置成输出NRZ数据模式时,则在RSER管脚输出恢复出的串行数据信号并送入FPGA。
(2)E1线路发送接口
待传输的串行数据流一般由XSER (发送串行数据NRZ)管脚进入ET2154,并在XCK(发送方向输入时钟)管脚接收来自FPGA的2.048 MHz的时钟信号。ET2154主要由内部精密的数模转换器(DAC)来产生要发送到E1线路上的波形,这种波形符合ITU G.703规范。系统中的发送器可将模拟波形从TYIP、TRING管脚通过1:1.36的升压变压器耦合到E1线路上。其E1信号发送示意图如图3所示。
(3) E1线路控制接口
ET2154的工作方式和特性是通过对其外部管脚的控制来实现的。通常将这些控制管脚连接至FPGA的外部I/O口,由FPGA来进行控制。ET2154 与FPGA的连接电路如图4所示。ET2154通过内部寄存器的配置来设置其工作方式,FPGA则利用8位数据/地址复用线AD0~AD7来对 ET2154内部的寄存器进行设置,从而实现所需要的功能。
3 系统软件设计
在对系统软件进行设计时,可将误码测试系统的功能分为各个功能模块,然后用VHDL语言编程实现FPGA芯片内部各个功能模块的硬件逻辑,最后整合完成设计。本误码测试系统的FP-GA内核中的功能模块有时钟分配模块、序列发送模块、序列接收模块、LCM控制模块、I2C控制模块、RC232串口控制模块、键盘消抖及扫描处理模块、总控制模块等。FPGA内核中各个模块之间的相互关系如图5所示。
3.1 键盘处理模块
本系统中的键盘处理模块包括按键的消抖和键盘的扫描处理。由于键盘模块的设计直接和用户的输入控制相关,用户的一切控制结果都和按键输入相对应,所以可将总控制模块和按键处理模块放在一起考虑。
3.2 时钟电路
时钟是整个系统设计中重要的一环。序列发送、序列接收、对E2PROM模块的读与写、串口通信的波特率以及LCD显示等都离不开时钟信号的控制,这就需要系统内有一个基准的时钟模块来提供所需要的时钟信号。时钟模块可由锁相环和分频器模块构成。通过对QuartusⅡ中mega-function模块 ALTPLL的定制可生成PLL,inclk0是外部有源晶振提供给FPGA的clk0引脚的16 MHz时钟,可经过PLL产生C0、C1两个时钟信号,其中C0是inclk0的2倍,为32 MHz,可作为序列接收模块中对测试码进行采样的采样时钟。而C1是inclk0的3倍,为48 MHz,设计时可将C1信号送入分频电路获得2 MHz时钟,作为序列发生器的时钟;也可将C1信号经分频电路获得1 MHz时钟,作为I2C控制模块的读/写及键盘模块的时钟信号;当C1信号送入UART控制模块和LCM控制模块后,可通过各自模块内部的分频电路获得所需要的时钟。图6所示的PLL模块中方框内表格中的各项内容分别表示信号名称、信号倍率、信号相位及占空比。
3.3 测试序列发送模块的软件设计
测试序列采用m序列时,ITU建议用于数据传输设备测量误码的m序列的周期是511,其特征多项式(本原多项式)建议采用f(x)=x9+x5+1,本文应用移位寄存器理论从本原多项式出发来产生m序列,本原多项式是f(x)=x9+x5+1的m序列的VHDL语言编程如下:
在Ahera的Quaaus II开发平台下,本原多项式f(x)=x9+x5+1的m序列的仿真波形如图7所示。
3.5 帧同步信号检测
对帧同步电路的一项基本要求就是要迅速发现失步,以便及时恢复同步。若在发送端插入帧同步码"0011011",那么,在误码检测时,由于E1串行数据流中也会出现"0011011"这样的内容,因而难以判断哪些是帧同步码,哪些是数据内容,所以,在设计中,可采用计数器来进行帧同步码的定位。
E1的帧周期为125μs,两帧即为250 μs,这样,若规定当捕捉到第一个同步序列后,只有在一段时间内,每间隔250μs,可连续三次(计数器计数)捕捉到这个同步序列时,才认为找到了帧同步。与此类似,在一段时间内,如果连续三次都没有捕捉到帧同步序列,那么,即可认为帧同步丢失。其帧同步信号检测流程如图9所示。
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