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锂离子电池管理芯片的研究及其低功耗设计-----版图实现及验证

时间:02-12 来源:3721RD 点击:

5.2.2后模拟结果

1模拟条件及功能验证

系统后模拟所用的电路图如图5.2.1所示,若没有特殊说明,判断CO、DO端是否为高电平的依据为CO、DO电压是否高于外接NMOS管的阈值电压1V.系统仿真同时采用了POWERMILL及HSPICE的验证方法。

图5.2.2~5.2.3都是HSPICE仿真的结果。其中,图5.2.2给出了过充电保护和释放模拟波形,结果表明在充电过程中,当电源电压VDD升高到过充检测电压VCU时,CO端将经过适当延时后降为低电平,切断充电回路;当VDD下降到过充释放电压VCL时,CO端将立即转为高电平。在整个过程中,因为电源电压一直高于过放检测电压V DL,所以DO端一直保持高电平,允许系统放电。图5.2.3则是过放电保护和释放模拟结果,图中表明,在放电时当V DD低于V DL时,DO端将经过一定的延时后降为低电平,禁止系统再进一步放电;当V DD上升到高于过放释放电压V DU时,DO端及时转变为高电平。同样,在整个过程中,CO一直为高电平。需要指出的是,为了减少模拟时间,延时时间直接在网表中设定,设定的时间比实际延时要短。电路检测到非正常信号后的延时另外用POWERMILL模拟。



图5.2.4给出了放电过程中,三级过流检测和保护的HSPICE仿真结果,图(a)、(b)、(c)中分别对应过流1、过流2和短路保护情况。由图5.2.4(a)、(b)可知,当放电电流检测端VM电压高于150mV、500mV时,比较器输出Vcomp_oct1和V comp_oct2立即翻转,分别延时6.35ms、1.61ms后,放电控制端DO降为低电平,关断放电回路;从图5.2.4(c)还得到,当VM上升比V DD低1.1V时,延迟0.58μs后,短路保护开始起作用,及时关断放电回路。



图5.2.5是非正常充电电流检测及保护的HSPICE功能仿真图。当在低电池电压下充电的过程中,VM降到-1.3V,比较器输出V out及时翻转,而此时V DD仍比较低,所以CO仍保持高电平,允许充电器继续对电池充电,而在延时2ms后,DO才由低电平转为高电平,允许电池接负载放电。图5.2.6则给出了电路在过放状态下进入Power Down状态,并在开始充电时退出Power Down的模拟曲线。



2电学参数比较

考虑了五种工艺漂移、温度变化(-5°C~55°C)、电源电压变化后,整个芯片的HSPICE/POWERMILL后模拟结果见表5.1和表5.2.表中还给出了中高精度的S82系列产品的指标对比。






由表5.1和表5.2可见,和文献报道的同类先进产品指标相比,本设计的电学参数性能均达到设计要求,检测电压和延时精度优于文献指标。另外,在有负载或充电器情况下,由于采用了动态功耗管理技术,芯片的电流功耗降低了14%左右,而这方面的指标,尚未见文献给出。可以肯定的是,将这种功耗管理技术应用在SBS中,节省的功耗将更为可观。

5.3小结在前章提出的电池管理芯片电路实现的基础上,本章完成了系统的版图设计和后模拟验证。首先,介绍了自上而下的版图设计方法,对本次版图设计中的重要问题作了讨论;其次,结合所用工艺,介绍了系统中的一些特殊器件的制作,完成了整个系统版图的设计;然后,分析了常用的版图验证途径,介绍了混合信号电路中后模拟所遇到的困难,结合本设计提出了解决方案,并在此基础上对系统功能、包括功耗在内的性能指标作了仿真验证;最后,将本系统的验证结果和文献报道的同类先进产品作了分析比较,结果表明,在考虑了工艺漂移、温度变化等因素的影响之后,本芯片能实现所有的设计功能,电学指标达到或优于文献,由于进行了有效的功耗管理,在实际应用中,能节省14%左右的电流消耗。

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