T-Clock技术 实现PXI整合同步测试

调整 DAC，以调整各设备的取样频率。举例来说，在将2 部任意波形发生器进行同步化时，同步化之输出可通过高速示波器加以检视，而 AWG 的取样频率也可使用相位调整 DAC 移到其它设备。通过这个手动过程，多部任意波形发生器之间的偏斜，可从数百个兆分之一秒(picosecond) 减少到 30 ps 以下。

在对2 部示波器进行同步化时，会使用同样长度的缆线，将1 个低相位噪声信号输入每示波器中。偏斜可以用软件来测量，示波器的取样频率也可根据其他示波器的相对关系进行调整。同样的方法亦用于数字波形发生器/分析仪的同步化。

可用高分辨率调整取样频率。在 100 MS/s 取样率的设备上(如 NI PXI-5122、NI PXI-5421，与 NI PXI-6552)，取样频率的延迟调整分辨率为 10 ps，可调整为±1 个取样频率期间 (10 ns)。在 200 MS/s 取样率的设备上(如 NI PXI-5422 与 NI PXI-5124)，调整分辨率为 5 ps，则可调整为 ±1 个取样频率期间 (5 ns)。因此，设备之间的偏斜可进行精确手动校正。