T-Clock技术 实现PXI整合同步测试
XI3 与PCI。这2 种平台在本质上即为模块形态,并且使用PCI 总线做为PC 和仪器之间的接口。
于 1997 年推出的 PXI 是一项开放标准,许多厂商提供各种 PXI 模块,包含从影像采集到 RF 矢量信号分析仪。PXI 开始迅速获得采用,主因是其小体积、可移植性、因采用 PCI 总线的高处理能力,与较低的价格;而 PXI 之所以拥有以上的特性,是因其采用庞大 PC 产品所开发出来的标准商业技术。
就功能而言,PXI 扩充了 CompactPCI 标准,加入局部总线与同步化功能。就同步测量而言,内建至 PXI 中的重要组件包含参考频率、触发总线,与星型触发总线3。
图 2. CompactPCI 平台的 PXI 频率与触发延伸图解
局部总线 | 触发器 | 频率 | 星状触发器总线 | |
PXI | 13条线路 | 8 TTL | 10 MHz TTL | 每个扩展槽1个 |
三、同步化的建构组件
要在多部设备之间取得同步化,则必须检视频率和触发器的分布。同步化有两种主要模式,但是在探讨这些模式之前,我们必须先定义以下的用语。
取样频率、参考频率、触发器,与主要设备和从属设备
由于并未标准化将测量设备同步化的信号名称,可能会因为设备类型和制造商而有所不同。本文件使用以下名词来指称高速测量设备,以说明用于控制测量的不同类型信号。
取样频率是时间信号,用于控制示波器与信号发生器上的ADC 与DAC,以分别进行模拟转数字与数字转模拟操作。取样频率亦控制数字信号发生器/示波器,于取得或产生数字波型速度时的信号。在大多数的情况下,取样频率是一个周期信号,源自设备上的一个晶体振荡器。晶体振荡器技术的类型包含电压控制式晶体振荡器(VCXO)、温度控制式晶体振荡器(TCXO),与恒温晶体振荡器(OCXO)。
参考频率──许多仪器内含相位锁定环路(PLL)。PLL 可将其输出频率锁定为其输入端口的参考频率。在仪器方面,虽然有许多仪器提供多种可允许的频率做为参考频率,但是常见的频率为10 MHz。PLL 的输出通常就是取样频率。PLL 允许取样频率频率锁定为参考频率频率。因此取样频率的绝对频率准确度与参考频率的频率准确度相同。
触发器信号控制在最高层级时的数据采集。外部事件或触发器是启动采集与信号产生的主要方法。触发器有各种不同的形式,包括模拟、数字,与软件。
主要设备及从属设备──在建立同步化之测量系统时,通常将指定一部设备做为主要设备,其他一或多部设备为从属设备。主要设备负责产生用于控制系统中所有测量设备的信号。从属设备则接收来自主要设备的控制信号。
同步化的目标,是精确地让多部硬设备产生并接收模拟与数字信号。频率与同步的分级之一,称为同质频率(homogeneous timing) 与同步化──2 部设定相同的同样设备,其取样频率之间具有精确的相位关系,同时开始产生并/或采集信号。以下的范例说明同质同步化:
• 2 部示波器以200 MS/s 的速度采集数据,其取样频率之间具有精确的相位关系:在同一时间触发、垂直增益设定、AC/DC 偶合设定、输入阻抗设定、DC 偏移量设定,与模拟过滤器设定皆相同。
前一个范例中有一重要现象,就是同质同步化的许多设定关联。举例来说,示波器前端的增益阶段与模拟过滤器的延迟,将导致前端接头与ADC 之间的延迟。
同质同步化可能意指许多不同的状况。以下的一些例子都可用于说明同质同步化:
• 2 部示波器分别以200 MS/s 与100 MS/s 的速度采集数据,其取样频率之间具有精确的相位关系:在同一时间触发、垂直增益设定、AC/DC 偶合设定、输入阻抗设定、DC 偏移量设定,与模拟过滤器设定皆相同。
• 任意波形发生器与示波器均以100 MS/s 的速度进行取样,其取样频率之间具有精确的相位关系,并在收到触发器信号时,以设定的时间延迟开始操作。
• 1 部示波器、数字信号发生器/分析仪,与任意波形发生器,分别以50 MS/s、200 MS/s,与100 MS/s 进行取样,其取样频率之间具有精确的相位关系,并在收到触发器信号时,以设定的时间延迟开始操作。
以上的例子清楚说明同质频率与同步有许多可能性,得以处理应用方面的需求。各设备上的不同设定,可导致在同一时间点上进行取样的信号/数据发生延迟。关键在于经过同步化的系统校正,这一点将在本文后面进行讨论。
四、同步化模式之一:使用取样频率进行同步化
主要设备可输出触发器信号与取样频率至从属设备,以控制测量系统的运作。举例来说,由多部示波器与信号发生器构成的系统,将具备由主要设备提供的取样频率。如图3 所示,主要设备的取样频率,将直接控制所有设备上的ADC 与DAC 频率。举例来说,NI 动态信号分析仪(如
- 使用PXI测试平台测试下一代无线设备(03-19)