急求!寄存器出现固定型故障,如何定位问题?
时间:10-02
整理:3721RD
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芯片测试出现了寄存器失效的问题,失效主要表现为固定型故障(Stuck At Fault),即寄存器的输出固定为0(SA0)或1(SA1)。具体表现为无论I2C或CPU读写,某寄存器的某一比特位都固定为0或1,出错的寄存器及比特位具有随机性(有一小部分值不稳定,读出的值在0,1之间不停跳变)。出错的寄存器具有随机性,且失效的概率也没有发现明显差别,在版图上分布也比较随机。
升高数字电源电压或者关掉一部分数字电路,有50%以上概率又能恢复正常读写状态。
降低主频(降低至1/4)或者降低温度(25℃至-30℃),寄存器基本不能从读写出错状态恢复正常。但观察到少数情况下,降低温度或者降低数字时钟频率,芯片可以从固定出错状态变到0/1跳变的状态,或者从0/1跳变状态恢复到正常的情况。
另外用的工艺从0.18shrink到0.153的,自己改过工艺库,偷了一部分rule。
大家有没有遇到过类似问题,能不能帮忙提供一些思路,感激不尽!
升高数字电源电压或者关掉一部分数字电路,有50%以上概率又能恢复正常读写状态。
降低主频(降低至1/4)或者降低温度(25℃至-30℃),寄存器基本不能从读写出错状态恢复正常。但观察到少数情况下,降低温度或者降低数字时钟频率,芯片可以从固定出错状态变到0/1跳变的状态,或者从0/1跳变状态恢复到正常的情况。
另外用的工艺从0.18shrink到0.153的,自己改过工艺库,偷了一部分rule。
大家有没有遇到过类似问题,能不能帮忙提供一些思路,感激不尽!
同样遇到过该类问题的路过,不懂帮顶~
没做dft 还怎么查么,
很显然时序混乱了,直接shrink通常会有这个问题。
可能是时序margin没加够吧 ,shrink工艺可以适当增加setup,hold margin,
感觉像ir-drop引起的问题, pr里面power画的多么,
hold margin 0.1ns太小了,ff下也是0.1ns么,最好 >=0.2ns,库里面的hold margin不算,
库里面有margin设置吗?是怎么设置的,好像没看到过?
小编你好,我想问下,我用M2做了power stripe,M2采用最小宽度0.28um,间距是33um,面积大概在800X1250um,
这样的power布线会不会引起IR drop的问题。谢谢!
跑100Mhz? 这个太危险了吧,你怎么用min width做 power grid啊
我觉得2um 还差不多,
居然用最小width 做power想想也是醉了
用M2 做strip 还这么小的width芯片不挂才怪, 你要用高层金属做strip啊,一般20%的面积做电源
额。看来是犯了个致命的错误。谢谢提醒,下次一定注意!