Tmax的覆盖率問題

I would suggest that run the post drc to see how many DFFs not scanable, which always cause uncontrollable nets and low the coverage.

thank you~

是不是存在复杂的组合逻辑
对复位、fifo、时钟的处理

thx！

二楼回答正确，也许你的DFT策略有问题。例如clock,rst没有直接连入。等等。

同问，我也一直不明白，是不是RAM多会导致coverage变低呀?

好问题啊 求指教啊

分析和提高test coverage的思路和一般的电路逻辑不太一样，要充分理解ATPG中stuck-at fault的定义，理解到为什么某个Fault为不可测点。
可以通过Tmax报出所有untestable fault的分布，然后针对这些fault进行用工具分析，找到造成untestable fault的原因（经常是Memory，Analog IP，uncontrollable clock）。
找到原因以后，针对具体电路加入test point（通常是MUX之类），然后在重新跑ATPG，就可以看到test coverage提高了。

同意9#的观点，一般测试覆盖率低是由 clk或者 reset还有一些IP 的输出 不可控造成的，通常是加MUX使它变成可控。

学习了，谢谢