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紧急求助不同电源域scan_chain插入问题

时间:10-02 整理:3721RD 点击:

各位大侠们,我的设计如附件图片所示:



1)我的设计分两个电源域,分别是V_Domain_A和V_Domain_B;
2)V_Domain_A为常开电源域;V_Domain_B在工作过程中会出现掉电的情况;
从V_Domain_B到V_Domain_A电源域的信号需要加isolation cell,所以我期望我的scan_chain的path如图中所示:
即:
每条scan_chain均从V_Domain_A指定的pin(so1、so2)到V_Domain_B,最终从指定的pin(si1,si2)返回到V_Domain_A再从芯片的scan out pin输出.
目前从V_Domain_A指定的pin出去是没有问题,
但在top层,我想让scan_chain按照我的思路走,
做了如下设置:
set_scan_path chain1 ……-head_elements{V_Domain_A中scan_chain1上的第一个cell}
set_scan_path chain2 ……-head_elements{V_Domain_A中scan_chain2上的第一个cell}
结果DC在insert_dft是直接退出,报了一堆数字。
然后我查看报告,发现scan_path并没有按照我的思路进行。
哪位高手帮忙解决一下这个问题,谢谢!

大侠们帮忙解决一下吧,别沉底喽

为什么要这样走scan path?

先不谈如何实现,在测试阶段, A B domain必然都带电,你为什么要这么搞?

测试阶段的确是都带电,但功能模式下,当B掉电时,我要保证到A的信号加隔离呀,因为scan_out要复用功能IO吗。

你只要根据真正scan chain的走法加入iso cell就行了,修改upf/cpf就行了,为什么削足适履

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