求教scan chain和DFT~

scan chain和dft一直没弄明白到底是什么~
看书的时候总看到，但是自己真没弄明白~
可以请教下哪位大神能用通俗点的解释高速我下啊~

这个是scan前和scan后的DFF，其实就是替换成带有scan逻辑的DFF，
那么当scan_en有效时，scan逻辑就会从scan-in穿过DFF到达scan-out，
多个scan DFF链接在一起就成了scan chain，链上有多少个scan DFF表示这条链的长度。
当然scan逻辑有scan enable，clock，data-in，data-out等信息。
DFT就是design for test，可测试设计，在设计中穿插DFT设计，在芯片从生厂商那里出来之后，
就要拿到测试厂中去测试，其中有一项叫做DFT测试，如果芯片有DFF坏了，那么这片芯片测试就会fail，这样可以用来挑选没有问题的芯片，提高良率，同时降低卖出去芯片的返修率。

@clean_water

Post scan 里的图是不是配错了啊?如果数据从scan in 只是做shift操作到scan out那有什么意义?scan chain有个很重要的意思是找到fault，test vector当然要经过需要检测的block。下面这个图更直观点。

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扩展下lz的问题，
到底scan chain 和 boundary scan 到底有什么区别?一般是先做scan chain 然后再BS?还有个BIST的概念，正在学习中，求赐教！设计中的命名DFT(Design for Test)和DUT（Design under Test）有什么深层次的含义区别?

scan chain是扫内部逻辑的,BSD是扫I/O PAD的.