关于基于scan的dft链长的问题？

请问您设计中DFT用多块的时钟?

就一个测试时钟，大约有5W多个DFF

多了就是覆盖率第一点，测试时间长一点，其他没有啥吧

你测试时钟是多少兆的? 测试时间太长费用不是太高吗，不能降下覆盖率吗

可以做EDT吧，里面分成多条链

EDT是什么?测试设备吗?为什么用EDT测就解决这个问题了?谢谢

Mentor的DFT方法，压缩测试，外部测试pin并不增加，里面会分成并行的多条链，所以每条链的长度得以减小，测试时间取决于最长的那条链，测试向量也是经算法压缩的

非常感谢

测试时钟为20M。链太长会不会导致产生的pattern，在测试的时候影响测试的准确率，比如本来电路制造上没有缺陷，但是测试结果不正确

这个方法之前项目用过，但不是我做的，仿真的时候没有问题，但是测试的时候就是不对.不清楚哪里出问题了。

个人感觉DFF的数量和覆盖率没有直接联系，决定覆盖率的还是设计本身，比如multi-path,false-path太多，固定值0/1输入太多，FF和FF之间的gate太深（比如夹了几个加法乘法器）什么的。相反，能Scan化的FF的数量不够反而是个问题

ScanChain的长短影响最多的还是测试时间，和最后的结果没关系。因为首先会用专门的chain test pattern来检测制造过程中chain上有没有问题