dft问题，tetramax的并行pattern用VCS仿真出错

tetramax生成串行stil和testbench，同时生成并行stil和testbench用VCS仿真，serial串行的正确没问题，parallel并行的仿真开始就提示error
提示是 DPV:Cannot locate scancell   test.dut.xxx_reg.TI in design database:chain 0 cannot be parallel accessed.
提示把每个链上的几乎每个cell都报了一次是不能定位
按理说，serial没问题，表示网表正确。但为啥会cell定位不到？

目测简单仿真问题，仿真时p和s应该都不会再check扫描链的了  
  

tmax好像可以生成好几种testbench，试试别的吧？
估计是软件的bug。

也许是sequential depth 的问题