ATE parametric bin screen是啥意思？
时间：12-12
整理：3721RD
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客户关于质控方面的要求，写的是：
Screen the dies with parametric bin that are outside statistical distribution.
我想问问做质控的兄弟们，这个要求具体是要做什么？
我理解，ATE测试的数据总会遇到那种，在limit以外，远离正态分布的坏芯片，
比如测电流，大部分都集中在10mA~12mA正态分布，然后偶尔有些坏片到了20mA或者1mA
那么这些芯片一般还需要什么额外的处理吗？
bow
Screen the dies with parametric bin that are outside statistical distribution.
我想问问做质控的兄弟们，这个要求具体是要做什么？
我理解，ATE测试的数据总会遇到那种，在limit以外，远离正态分布的坏芯片，
比如测电流，大部分都集中在10mA~12mA正态分布，然后偶尔有些坏片到了20mA或者1mA
那么这些芯片一般还需要什么额外的处理吗？
bow
screen 就是筛选出吧。筛选之后 怎么办 没说