微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 研发问答 > 微电子和IC设计 > 微电子学习交流 > 求助:红外焦平面阵列的非均匀性,如何进行仿真?

求助:红外焦平面阵列的非均匀性,如何进行仿真?

时间:12-12 整理:3721RD 点击:
我要做一个用软件仿真热红外探测器的项目。
在探测器部分,如何软件编程(C++)仿真红外焦平面阵列的非均匀性,
使得输出的灰度图像有非均匀性的特征?
计算公式越简单越好,希望获得行家的帮助,多谢了。

你们做这个吗?国内还是国外的公司or研究所?

谢谢回复,国内学校。
有没有什么建议啊?
愁死我了。

这个好像没有复杂的什么算法吧。像素灰度值和电压成正比,非均匀性,我没明白什么意思,就是乘上一个系数。你是这个意思么?

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top