微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 研发问答 > 微电子和IC设计 > 微电子学习交流 > 求教:可测性设计方面的

求教:可测性设计方面的

时间:12-12 整理:3721RD 点击:
最近在编写一个关于可靠性方面的文件,主要参考的是国外的资料,该资料如下图所示。
读了一下国外的资料,没有理解到其中的内容。特别是画红线的两个部份。
我对这两部分的理解是:
1 testability bus:我认为就是把测试有关的信号归为一个总线,如JTAG形式;
2 CAD for test tools: 我的理解是CAD是为test tools服务的,比如说在ATE测试方面,  
CAD 为ATE等测试仪器(即文中提到的test tools)提供测试pattern。
不知道我的理解是否正确?
谢谢啦!

谢谢!你说的是他翻译了这一段么?因为比较着急,所以查看全书不太现实

恩,我也非常赞同你的说法,至少我觉得那是我也想达到状态。。。我目前的情况是:
    1 手边只有计算机和internet,只能去网上下载电子版;
    2 明天是该文件的提交日期,而且手边还有其他的一些工作;
anyway,非常感谢!

恩,非常感谢。我觉得CAD for test tools可能是做DFT时所用的软件,如cadence的DFT
Advisor等,因为
1 cadence等公司,他们的DFT软件也通常称为DFT tools;
2 前面依次提到的是设计风格,DFT方法,接下来可能是设计软件工具。

恩,想了想,应该是design,而不是software...非常感谢!

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top