50阻抗线换层参考电源平面的话应该如何测试才是正确?
时间:10-02
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50阻抗线换层参考电源平面的话应该如何测试才是正确?
假设测试一根50欧走线,从顶层到底层再到顶层,中间有地与电源参考
50阻抗线换层参考电源平面的话,如果没有电容的是不是电源就是悬浮状了
这样的无源光板测试换层效果是不是有一些问题
正确的方法应该是如何的呢?
假设测试一根50欧走线,从顶层到底层再到顶层,中间有地与电源参考
50阻抗线换层参考电源平面的话,如果没有电容的是不是电源就是悬浮状了
这样的无源光板测试换层效果是不是有一些问题
正确的方法应该是如何的呢?
我觉得测试时应该参考最近的平面。
那类似换层的光板在测阻抗的时候是怎么考虑的呢
光板是什么板,没有接触过啊,反正用麦克斯韦去理解就行了
这个概念一直比较模糊,如果是背板的话,测试的时候还是要找最近的地来做参考 毕竟芯片用的时候还是要参考地的
这种情况裸板测试结果肯定跟实际不一样,实际情况会有去耦电容提供电源平面上回流到地平面的AC路径,另外P-G间的谐振分布也影响测试到的S参数曲线,一般比较高速的信号坚决不能这样设计走线,带来的后果就是电源地谐振频点的信号分量衰减相当严重的,SI问题自然就会出现。
如果需要测试这种效果的话,需要焊接电容到上面?
没有好好考虑过这个问题哦,下次遇到俺要思考一下
