2009年测试与测量发展趋势

业组织如半导体测试联盟(SemiconductorTestConsortium)和半导体测试合作联盟（CollaborativeAllianceforSemiconductorTest）正在致力于创建一种开放式的测试架构标准，使得工程师能够将模块化、软件定义的仪器系统（如PXI）集成到传统的半导体ATE中。通过在半导体测试系统中使用软件定义的、基于FPGA的模块化仪器，工程师们可以利用传统ATE中常用到的标准电路引脚来获取实时反馈，并通过更合适的使用规范来降低测试总成本，以及提高用户的调试能力。