R&S于EuMW 2012展出微波测量应用解决方案

罗德与施瓦茨(Rohde & Schwarz；R&S)于阿姆斯特丹举办的2012微波年会(European Microwave Week)展出于微波测量应用解决方案，3号馆, 115/216展位，包括支持2Hz-43GHz频率范围的FSW43 高阶信号及频谱分析仪、仅1U高的SGS100A 精巧型矢量信号产生器，以及可提供向量网络分析仪升级的R&S ZVA-K31 选项，以及9场技术研讨会与现场参观者进行交流，提供完整且多样化的微波测试选择。

R&S将首次展出R&S FSW43 高阶信号及频谱分析仪，支持从2Hz至43GHz的频率范围，是市场上现有最强大的微波分析仪，具备令人印象深刻的射频测量性能、测量速度以及简易的触控式作业接口，能简化在卫星通讯及雷达应用上复杂的测量任务，亦支持多重标准的信号分析(MSRA)功能，以协助研发工程师分析各种标准的信号及其互相干扰。R&S FSW43 MSRA 模式支持频谱及调变参数的测量，并包含信号的时间相关性，更易于为被干扰或受影响的信号进行正确分析。

R&S最新且最精巧的矢量信号产生器SGS100A 可产生高达12.75GHz的I/Q调变，输出功率达+22dBm，极精巧的R&S SGS100A 仅1U高、19"宽，特别适合作为ATE 市场及适用于有多样化信号源需求的测试程序。结合R&S AFQ100B 外部IQ 基频信号源，即可产生高达12.75GHz的信号，为雷达应用及卫星通讯系统的理想解决方案，例如产生大带宽的Chirp或陡峭的脉冲边沿；R&S SGS100A 亦涵盖所有6 GHz行动无线电标准的测项。

R&S ZVA-K31 选项为R&S的另一项创新，可提供R&S ZVA 及R&S ZVT 向量网络分析仪进行升级，以测量频率转换组件(高达67GHz) 的噪声系数，例如汽车产业、使用于无线通信的RF芯片或放大器、混频器、卫星接收器及雷达应用等。于研发及产线端，使用者需要进行非常高度准确的噪声系数测量，感谢其位准及端口的匹配校准，因此不需要额外的噪声源，即可决定信号及噪讯功率，使测试的设定及作业将变得更加简单。

此外，在European Microwave Week 期间，R&S还举行9 场技术交流会及研讨会，囊括非常广泛的微波相关的主题，包含高达500GHz的on-wafer 测量以及产生及分析复杂的脉冲信号做为雷达的测量应用。