NI成功主办第九届 “中国PXI技术和应用论坛”

　　携手12家国内外知名PXI供应商共同庆祝PXI技术发展15周年

　　2012年6月由美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）主办的第九届“中国PXI技术和应用论坛” （PXI Technology & Application Conference，即PXI TAC）于2012年5月29日在上海国际会议中心成功召开，超过500名工程师和技术人员到场参加。共有12家国内外知名PXI供应商和系统集成商, 10家行业内的知名媒体参加，是历届之最。

　　今年是PXI技术发展15周年。自从NI于1997年提出PXI标准以来，PXI技术以惊人的速度在测试和控制应用领域得到广泛接受，经过15年的发展已经成为主流的模块化仪器平台。自从1997年NI推出业界第一款PXI机箱开始，NI就一直是PXI技术的创新者和领导者，15 年来NI一如既往地追求卓越，不断在测试测量领域进行创新和持续投入。今天NI可以为客户提供超过500种的PXI产品，覆盖从直流到射频的量测领域。在这15年来，NI PXI技术和产品也获得了众多奖项，得到了业界的充分认可。

　　全天的活动围绕 15 周年为主题展开。主题演讲由 PXI 系统联盟市场委员会主席Matthew Friedman 和 NI 全球研发部副总裁 Robert Canik 分别从市场与行业的角度以及研发角度对 PXI 的历史、现状以及未来进行阐述，与听众分享 NI 在 PXI 技术发展的 15 年里所做出的贡献，NI中国的技术市场工程师介绍了 PXI 平台的最新发展和应用；最后，NI特邀嘉宾上海无线通信研究中心副主任、副总工程师杨旸博士与现场观众共同分享如何成功利用PXI平台在射频方面完成自己的测试测量应用。主题演讲之后，15周年展示区进行了PXI 15周年切蛋糕的庆祝活动，将整天的活动推向高潮。之后的全天活动中，NI和12家PXI厂商围绕自动化测试平台专题、行业应用专题和射频应用专题，20场技术讲座和精彩的动手课程，为观众打造了一个PXI最新技术与应用的交流盛宴。

　　随着基于PXI 的模块化射频仪器不断发展和成熟，今年的PXI TAC新增了射频应用专题与展示。NI的工程师为观众介绍了基于PXI的软件无线电平台在802.11ac、LTE物理层测试、雷达与电子战系统设计等方面的应用。