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浅谈WCDMA中用户设备的衰落测试

时间:01-05 来源:电子工程专辑 点击:

测试无线系统(包括用户设备和基站)在衰落情形下是否能够成功地收发数据,是测试过程的重要组成部分。在通信理论中,一般把衰落分为快衰落、慢衰落、时间选择性衰落以及频率选择性衰落等类型;然而,在实际的传播环境中,往往是这些类型的排列组合。本文从实际应用出发,着重根据3GPP规范中规定的不同测试环境,讨论WCDMA|0">

而现在的衰落仿真则通常直接在基带中实现。在此,我们选择R&S公司(罗德与施瓦茨公司)的无线综合测试仪CMU200用于产生WCDMA的下行信号;使用矢量信号发生器SMU200进行衰落以及AWGN仿真。首先由CMU200产生下行信号,直接在基带引出其I/Q信号,经SMU200进行衰落仿真后,再把相应的信号引回到CMU200,然后经其射频端口输出,如图5所示。

图5:测试设备连接图

由于SMU200已经根据移动无线电主要标准的技术规范(包括3GPP的各种测试场景,如静态传播、生灭传播等),集成多种衰落模型,大大简化了测试复杂度,我们直接选择相应的测试场景即可。(当然也可以根据需要,自己设置各个衰落参数。)如果再配合使用CMUGo(此软件可以从罗德与施瓦茨公司的网站上免费下载:http://www.rohde-schwarz.com/www/download_files.nsf/file/CMUgo_1_70.zip),则无需直接操作仪器,只要在CMUGo中设置几个简单测量参数,仪器就可以自动进行复杂的衰落测量了。

本文小结

随着3G牌照在国内的发放时间进入倒计时,根据3GPP测试规范对3G设备进行测试,无疑引起越来越多相关人员的注意。罗德与施瓦茨公司根据其多年的测试经验,推出的测试解决方案,大大简化了测试复杂度,保证了测试的精度和速度,推动了3G在中国的迅速发展。

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