超快速IV测试技术-半导体器件特性测试的变革
时间:08-16
来源:互联网
点击:
了。
问:4200-SCS自身电源对信号采集有干扰吗?
答:4200的电源是来自于建筑物的电网,如果电网的接地有问题,就有可能会对测试产生影响。
问:超快速IV特性能捕捉瞬态波形并存储么?
答:可以,这是PMU的一种工作模式,也就是波形抓取。
- 数字源表B2900A在半导体激光器测试中的应用(11-29)
- LIV测试系统的组成(02-06)
- 超快速IV测试技术简介-半导体器件特性测试的变革(08-07)
- 二极管泄漏电流及MOSFET亚阈区电流的测量(01-13)
- 半导体器件及集成电路损坏的特点小结(07-31)