DC／DC电源模块的温度的关系测试解析

达130 kHz，在这样高的频率下工作，可能引起内部多种退化机制，导致VDMOS的性能下降，甚至失效。

在本实验中对模块中的VDMOS单独加温，测试模块电学参数的变化，通过测试得到当温度到180℃时，输入电流随温度的升高有较为明显的增加。而输出电压、输出电流随温度的升高变化较小。此外计算模块的输出效率，判断模块是否处在正常工作状态，通过计算可到对VDMOS单独加热到180℃时，模块的输入电流迅速增加。而当温度升至220℃，输出电压几乎没有变化，由于模块在150℃已经失效，而此时单独加热温度已经高达180℃，远高于模块整体加热失效的温度，因此VDMOS的温度特性不是影响输出电压变化的原因。二极管(SBD)

在模块中使用的二极管有稳压二极管，整流二极管，其中整流二极管在电压转换过程中扮演了重要的角色。在变压器的输出端，两个整流二极管在不同时段导通，使交流脉动电压转换为直流脉动。在本实验中，对电路中的SBD单独加热，发现随着温度的升高，模块的输出电压没有较明显的变化。因此模块在高温工作的环境下，SBD不是引起模块输出电压下降的主要因素。

光电耦合器

光电耦合器(以下简称光耦)以光为媒介传输电信号。它对输入，输出电信号有良好的隔离作用。光耦一般由3部分组成：光的发射、光的接收及信号放大。输入的电信号驱动发光二极管(LED)，使之发出一定波长的光，它被光探测器接收而产生光电流，再经过进一步放大后输出。这就完成了电一光一电的转换，从而起到输入、输出隔离的作用。由于光耦输入输出间互相隔离，电信号传输具有单向性等特点，因而具有良好的电绝缘能力和抗干扰能力。

在模块中，光耦作为隔离输入、输出的重要部件，同时将输出端比较放大器输出的电流信号传输到PWM的9脚，而9脚是PWM的补偿端，它与比较器的反向输入端相连，控制PWM的11脚和14脚输出脉冲的宽度。从而调整模块的输出电压保持稳定。

在本实验中，首先测试模块中使用的光耦NEC2705的输入端电流与输出端电流的比例系数随温度的变化，输入端所加电流为11 mA，结果表明在25℃时，该光耦的电流传输比接近1：1，但是随着温度的升高，输入电流不变，输出端的电流逐渐减小，大约每升高10℃，光耦的电流传输比减小4%，结果如图4所示。

图4：光耦电流传输比与温度的关系

图5：输出电压与光耦温度的关系

然后对工作状态中模块的光耦单独加热(模块光耦较大，可取下焊线后单独加热)，测量模块的输出电压，见图5。发现随着温度韵升高，模块电压逐渐下降，且与模块整体加热时测得的输出电压随温度上升而下降趋势基本符合。通过分析可知，随着环境温度的升高，电源模块各元件的功耗增加，将导致模块的输出电压的下降，此时应当通过光耦连接的反馈电路，使得PWM输出的脉宽增加，提高输出端的电压，但是由于光电耦合器的传输效率下降，不能完全将负反馈的结果传输给PWM。使得PWM输出脉宽比实际较窄，即电压调整能力降低，使输出电压随环境温度上升而下降。

综上所述，模块温度特性表现为：在温度小于150℃的时候，模块的输出电压缓慢下降，原因是由于光耦电流传输比的下降引起;当温度大于150℃时，电源模块输出电压迅速下降，甚至输出电压几乎为零，其原因是此时模块中变压器的磁芯温度接近居里点温度(220℃)。变压器作用失效所引起。在此情况中，如果模块内部没有产生其他的损伤，当停止加热，模块温度恢复到室温，模块重新加电，模块输出电压仍能恢复到正常值。然而，对于本实验中测试的模块，当环境温度超过150℃左右时，由于模块变压器的磁芯温度达到距离点，使磁芯温度升高，该正反馈会使磁芯温度迅速升高，产生的热量也更多，造成模块内部其它器件的损坏，很容易造成模块的永久损毁。