是不是每次测量一个新的项目前都必须做校准

置测试轨迹(水平或垂直扫描)、采样方式(单向或双向)、极化方向、测试参数设置(频率、行数、行间距、行点数、点间距)等参数来设计测量。为了校正接收机由于长时间测量所造成的幅度相位漂移设计了Tie扫描功能。同时还具有速度设定、显示参数设定和实时显示等功能。

　　* 远场测量

　　用于口径较小天线的暗室远场测量。用户通过设置频率、方位角、角增量等参数来设计测量。同时可通过显示参数的设定，选择对数直角坐标或对数极坐标格式实时显示测量的幅度数据。改变参考电平和刻度能够改变曲线的显示效果。曲线的位置是根据参考电平大小改变的，而刻度决定了幅度的显示范围。用户可根据实测幅度值调整参考电平和刻度来获得最佳显示效果。图形编辑功能对所测远场数据曲线，给出标题注释，并通过移动光标加注标记。程序能自动计算波束的半功率角和第一副瓣的位置。

　　5.仪器控制

　　该部分将仪器通过远程控制实现了仪器的虚拟。程序模拟VNA37147的面板功能，用户可完成仪器的仿真操作。对于熟悉仪器操作和控制指令的用户则可通过控制示例直接对仪器进行控制。该功能为开发人员提供了一简洁的调试环境。

五、 系统性能指标

　　西安电子科技大学为信息产业部长岭机器厂研制的近远场综合测试系统。系统调试中采用Hp5525A双频激光测量仪对各轴定位精度、重复定位精度和直线度进行检测，然后采用轴向定点误差补偿、丝杠螺距误差补偿、间隙补偿等方法，提高了系统精度。

　　驱动轴全程累积误差

　　(mm)重复定位精度

　　(mm)直线度

　　(mm)最大运动速度

　　(mm/s)X(4.5m)设计0.10.030.0480实测0.0570.0140.04100Y(3.6m)设计0.10.030.05100实测0.050.0090.03100Z(0.3m)设计0.10.030.0230实测0.0780.0290.0250

　　对平面近场扫描而言，Z向的机械误差等同于待测天线的相位误差，其影响大小取决于待测天线和误差校正方法。研究表明对于窄波束天线，X和Y向误差只影响副瓣区域且其影响仅为Z向的1/10[2]。实测表明系统具有很好的重复性。

　　六、 结论

　　一种新型、快速、高精度的近远场综合测试系统已在信息产业部长岭机器厂建成，该系统完全达到了设计指标。其机械精度优于设计要求，表明基于PMAC可编程控制卡的系统控制方案的可行性和优越性。系统具有良好的推广价值。