IC测试常见问答

我在测试的时候，有些DC参数在同样的条件下几次测试的结果相差很大。不明白是为什么?

　　你使用的测试机台是什么型号?测试的产品是属于哪种?还有具体什么参数，相差多少?

　　我们用的是credence kalos，测试的是memory，在测ICC时，可能从几百uA--几十mA，实际值应该在十几mA。

　　credence kalos 我没有用过，不过ICC不稳定原因有很多，如果其他同批产品没有这个问题的话可能是这个IC的问题，可以先做下BENCHTEST，一般初期诊断是更换测试机台或者用标准器件做比较。个人看法，仅供参考

　　benchtest是什么意思?还有就是同一颗IC多次测试他为什么会不稳定。

　　状态不稳定可能是ICC不稳定的原因 如果同一个芯片测试不稳定而且误差比较大，可从以下2方面去看：

　　1. 在测量时芯片所处的状态是否稳定。

　　2. 芯片的Input pin是否有Floating，Output pin是否在不停的翻转

　　就是自己搭模拟电路测试，用电源，示波器...比较麻烦，而且需要APPLICATION BOARD，不知道你们有没有。如果是同一颗不稳定，一般会交给DA或者FA去分析，CURVE TRACE先吧。

　　电源干净么? 先看一下电源脚是否干净。然后换一下电流的range来看一下，最好用样品校验一下。

　　电源很干净，range应该也没有问题，它有10mA左右的电流，用25mA的range。应该没有问题，只是有时电流会变成100uA左右。样品在10mA左右很稳定。

　　如果是MEMORY测试,可以对其写相同的数据让口上不翻转.然后看看会不会好点.但是据你所说样品没有问题的话,可能这个问题无解.

　　多比较

　　IDD (ICC)一般为一个器件的特征值，分布范围不会很大，100uA-10mA的变化肯定是异常的。

　　1) 如果真的是样品在10mA左右很稳定, 那么设备及测试程序没有问题，产品的问题可能很大，也不需要花费很大脑筋，正如Code631兄说的，交给DA/FA。

　　2)如果产品没有问题，则要确认Hardware, Test Program方面的问题

　　-〉 Hardware重点确认Relay的动作是否稳定，可以在程序Meter读之前设置断点，然后不停的Strobe Meter，看Meter值是否稳定。这是验证Hardware动作静止的情况下，电流值是否跳动。

　　-〉 确认Drive Pattern是否正常，IDD和Pattern有直接的关系，如果Pattern编写不正常，会造成DUT功耗不稳定。

　　但是，如果标准样品稳定，就不分析测试系统的问题。

　　把DEVICE交给DA的结果无非就是确认电路某个坏点或者观察一下curve trace的图形。基于楼主的描述，基本上可以确定是这颗产品的问题，driving pattern和i/o的assignment应该不会有错，否则标准件不会过关。

　　如果要究其原因，我想大概要联系到半导体物理的内容了。电路参数的fluctuation造成的intermitent failure有可能是alpha粒子的轰击或者电路内部EMI(电磁辐射，如果片内有感性器件的话)所造成的，我想工程上是不需要涉及到这个LEVEL的。

　　目前的解决方法就是请DA出一个报告，主要是benchtest和curve trace的报告，观察在静态(无relay动作下)条件下ICC/VCC的曲线特征。做到这一步也就可以了。

　　测试稳定性关系到你本身产品的性能、测试方法、还有硬件(设备、Test Board)。

　　1、测试不稳定的参数是否仅有VOUT一项?(占空比，频率?VOUT其它电压条件的如何?)

　　2、寻找测试结果的分布规律，是否变动很大?还是总是偏大/偏小?

　　3、你的参数测试方法?使用哪些硬件资源，DUT外围器件如何?

　　不知道你使用的Test Board电路如何?

　　因为2576是开关电路，测试电路的EMI(电磁干扰)问题尤为重要。

　　- 输入、输出端的连线要尽量短

　　- 使用单点接地方式

　　- 是否使用的是肖特基二极管1N5822(或者快恢复二极管)。这点往往被工程师或略，常用1N4XXX等普通整流/开关管代替，这样会造成EMI增大，输出效率降低，是不稳定的一个祸因。

　　以前我处理过LM/MC34063，也是遇到测试稳定性差的问题。

　　看看你的pattern和电源滤波电容有没有问题

　　ICC应该让chip不停的run，那么你的pattern应该是loop的，如果loop的首尾连接不好就可能出现这样的问题

　　另外，测试仪也是个问题，你可以反复测试几个DUT，看看有什么规律没有Pin有没有I/O类型的，如果有外面结法是否应该检查一下内部有没有电容，charge pump一类的功耗元件

　　如果都不是，就要看看版图or加工了，是否内部有虚短的东西，这个比较难分析了

　　也就是TL431吧?3PIN(TO92/8SOP)Voltage Reference，我们生产过。你能肯定是测试还是FAB的问题?30ea是否为真的不良，有没有验证过?

　　查连线吧

　　因为在FT时会有Handler的接触电阻和Handler和Tester通讯的cable的电阻.所以建议用Socket将这些Fail的芯片直接在Tester上测,如果OK就查连线吧.

　　SPEC Limit是多少?

首先，每个管芯(PASS