EDA环境衔接测量软件　电子产品开发周期大幅缩短（一）

时间：09-30 来源：互联网点击：

能透过衡量标准（如LTE错误向量幅度（EVM）与邻近通道洩漏比（ACLR））的“标准规格”而取得测量资料。但现在由于EDA软件与自动化软件可衔接，让工程师可于模拟装置上建构EDA环境，进而使用完整的测量演算法。也因为如此，工程师在设计初期即可找出复杂产品或系统相关的问题，亦等于缩短设计时间。