ATmega128单片机的真随机数发生器

3 提高性能的措施

在实际应用中，若采用该方法产生的随机数进行数据加密时，为防止解密者拆除、短接RC电路或更改RC电路参数，可利用测得的充放电时间来确定外部RC电路的存在和参数的稳健。如若充放电时间不在程序预先设定的区间内，单片机立即销毁相关数据并停止程序运行，从而达到加密的效果。

提高随机数产生速率。采用本文的方法产生的随机数的速率和RC充放电时间有关系，由于RC充放电速率影响，在产生高速率随机数的时候不合适。针对该问题，可将得到的真随机数作为种子来产生一定数量的伪随机数，这样可大大提高产生随机数的速率。

结语

设计和实现了一种基于AVR单片机的真随机数发生器，利用RC充放电电路的不稳定性完成了真随机数的产生。该随机数发生器利用AVR单片机少量硬件资源完成，具有设计简单，成本低廉的优点。最后提出了软硬件结合的方式，提高了该随机数发生器的性能，拓展了该真随机数发生器的应用范围。

参考文献

1. Knuth DE.计算机程序设计艺术(第2卷):半数值算法[M].苏运霖,译.3版.北京:国防工业出版社,2002:36-67.
2. 杨波.现代密码学[M].北京:清华大学出版社,2003:128-129.
3. Gary M,John V.使您的软件运行起来,消除偏差[0L].(2004-03).[2009-02].http://www-900.ibm.com /developerWorks/cn/security/beating/index.shtml.
4. Sehneier. 应用密码学--协议、算法与C源程序[M].吴世忠,祝世雄,张文证,译.2版.北京:机械工业出版社,2001:302.
5. 黄枫,申洪.基于Intel RNG的真随机数发生器研究[J].第一军医大学学报,2004,24(9):1091-1095.
6. 梁灿彬,秦光戎,梁竹健.电磁学[M].2版.北京:高等教育出版社,2004:261-265.
7. 马潮.高档8位单片机ATmegal28原理与开发应用指南[M].北京:北京航空航天大学出版社,2004:2-11.
8. 邹望辉,应建华,雷鉴茗.用于实时时钟的高性能晶体振荡器[J].计算机与数字工程,2004,32(6):97-99.
9. 阎石.数字电子技术基础[M].4版.北京:高等教育出版社,2000:44-125.
10. 张泽虹.C语言程序设计[M].北京:电子工业出版社,2007.

        
作者：西华大学 刘晓旭  曹林  董秀成 来源：《单片机与嵌入式系统应用》 2009（11）