基于LabVIEW的存储器检测系统研究
时间:03-22
来源:互联网
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4 结 语
采用NI系列PXI板卡及灵活方便的LabVIEW软件平台,构建了一套某装备存储器的检测系统。通过数据库实现了测试算法与测试程序的独立性,可以根据不同的March算法进行测试。实验结果表示,该系统具有自动测试性强,容易操作,可扩展性强等特点,有效提高了对某装备存储器的测试效率。
参考文献
1. 陈思,黄亚宇.虚拟仪器技术概述[J].机电产品开发与创新,2007(20):51-53.
2. 卢松升,刘正之.基于LabVI EW和数字I/O卡的逻辑分析技术[J].微计算机信息,2006,22(20):85-86.
3. 田勇,孙晓凌,申华.基于FPGA的SRAM测试电路的设计与实现[J].电子工程师,2008,34(12):57-59.
4. Niraj Jha,Sandeep Gupta.Test of Digital Systems[M].England:Cambridge University Press,2003.
5. 左正军,程新明,李加庆,等.基于March算法的存储器测试控制器设计[J].微计算机信息,2007,23(23):107-109.
6. 孙华义,郑学仁,闾晓晨,等.嵌入式存储器内建自测试的一种新型应用[J].中国集成电路,2007(11):82-86.
7. 冯国臣,沈绪榜,刘春燕.基于MarchX算法的SRAM BIST的设计[J].微电子学与计算机,2005(22):44-47.
8. 刘贵喜,邵明礼,刘先红.基于PXI平台的弹上计算机自动测试系统[J].仪器仪表学报,2005(8):265-266.
9. 胡金华,袁湘辉,张卫,等.LabVIEW中数据采集系统的开发应用[J].仪表技术,2008(7):21-23.
10. 陈锡辉,张银鸿.LabVIEW 8.20程序设计[M].北京:清华大学出版,2007.
作者:王天辉 马立元 张延生 (军械工程学院,河北,石家庄,050003)
来源:现代电子技术 2009 32(24)
采用NI系列PXI板卡及灵活方便的LabVIEW软件平台,构建了一套某装备存储器的检测系统。通过数据库实现了测试算法与测试程序的独立性,可以根据不同的March算法进行测试。实验结果表示,该系统具有自动测试性强,容易操作,可扩展性强等特点,有效提高了对某装备存储器的测试效率。
参考文献
1. 陈思,黄亚宇.虚拟仪器技术概述[J].机电产品开发与创新,2007(20):51-53.
2. 卢松升,刘正之.基于LabVI EW和数字I/O卡的逻辑分析技术[J].微计算机信息,2006,22(20):85-86.
3. 田勇,孙晓凌,申华.基于FPGA的SRAM测试电路的设计与实现[J].电子工程师,2008,34(12):57-59.
4. Niraj Jha,Sandeep Gupta.Test of Digital Systems[M].England:Cambridge University Press,2003.
5. 左正军,程新明,李加庆,等.基于March算法的存储器测试控制器设计[J].微计算机信息,2007,23(23):107-109.
6. 孙华义,郑学仁,闾晓晨,等.嵌入式存储器内建自测试的一种新型应用[J].中国集成电路,2007(11):82-86.
7. 冯国臣,沈绪榜,刘春燕.基于MarchX算法的SRAM BIST的设计[J].微电子学与计算机,2005(22):44-47.
8. 刘贵喜,邵明礼,刘先红.基于PXI平台的弹上计算机自动测试系统[J].仪器仪表学报,2005(8):265-266.
9. 胡金华,袁湘辉,张卫,等.LabVIEW中数据采集系统的开发应用[J].仪表技术,2008(7):21-23.
10. 陈锡辉,张银鸿.LabVIEW 8.20程序设计[M].北京:清华大学出版,2007.
作者:王天辉 马立元 张延生 (军械工程学院,河北,石家庄,050003)
来源:现代电子技术 2009 32(24)
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