LTC2207在S3C2440和EP3C25控制下的采集应用
时间:02-28
来源:电子科技
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从图中可发现此输入下数据已经达到满值(输入超过1.125 V),OF为高,说明数据有溢出。
当采集输入是由信号发生器给的200 kHz正弦信号时FPGA采集来的数据仿真如图8所示。
由一个周期采样点数公式N=Tsig/Tsam=fsam/fsig,知此输入频率下采样点数为40 MHz/200 kHz=200,若看坐标-250处的OF17h,则找出一个周期后的那个数是不是和初始值相同。FPGA坐标为150时的数据仿真如图9所示。它处在坐标150的位置为OF07h,和OF17h相差很小。取对应的多组数观察都证明对模拟信号的数据采集亦是比较正确的。
结语
针对A/D转换芯片LTC2207,详细描述了以FPGA和ARM作为控制器的采样设计。采用FPGA直接对A/D进行配置,避免了采用DSP、单片机等进行配置的传统方式,因而设计灵活、简单、通用性强。通过对采集来的数据进行仿真验证,发现在ARM和FPGA的控制下16位A/D芯片LTC2207得到了很好的采集应用。
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