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LTE测试技术原理及解决方案集锦

时间:11-12 来源:本站整理 点击:

,所以对于测试就提出了新的要求。基于在3G测试领域的丰富经验和领先地位,是德科技对于LTE标准从早期 的研发阶段就开始跟踪研究,积累了丰富的经验成果,目前不仅可以为LTE FDD,而且也可以为TD-LTE无线设备研发提供了完整的测试产品线。设备制造商自始自终都可以依赖于是德科技的产品和专家级的支持。

  如下图所示,我们可以看到是德科技在LTE FDD/TD-LTE各个领域以及客户研发设备的整个生命周期都能给出完整的解决方案,适合不同客户的需求。

  图一 Keysight LTE整体解决方案

  2 Keysight TD-LTE测试解决方案

   干扰信号和有效信号还有另外一个特点,那就是干扰信号和有效信号会随着车速、风速的快慢而改变。抗干扰的方法如图4所示,首先由RC 组成的低通滤波器滤除高频干扰信号,并对输入信号的幅值进行限幅与整形,再由光电隔离器件实现数据采集器与变频器之间的隔离,从而实现数字信号通道的抗干扰要求。

  Keysight的接收机端测试系统

  通过signal studio波形生成软件生成LTE波形下载到PXB进行播放,通过PXB模拟MIMO Fading信道状况,并利用另外两台EXG/MXG分别输出两路MIMO射频信号,来测试在有干扰和多径的情况下的LTE接收机接收信号和抗干扰的能力。

  

  图二 LTE接收机测试

  PXB MIMO接收机测试系统

  

   是德科技的N5106A PXB MIMO 接收机测试仪能够有效地解决在实际无线信道条件下多天线信号产生和信道仿真的需求(图 1)。它可以快速生成真实条件下的 MIMO 环境和 MIMO 信道,并可生成包括路径衰落和信道相关在内的实际衰落场景。PXB MIMO 接收机测试仪提供多达 4 个基带发生器(BBG)、8 个衰落产生器(fader)、业内最宽的120 MHz 带宽、能够模拟宽带的无线信道特性,比如时变的多径时延扩展,多普勒扩展,快衰落,阴影衰落等。用户还可自己定制 MIMO 相关性设置(例如,预定义的信道模型、天线方位图和相关矩阵)并可支持 2x2、2x4 和 4x2 MIMO 的信号产生和信道仿真。

  

  图1:N5106A多通道基带信号源

  3、TD-LTE 发射机端测试方案

  Keysight TD-LTE发射端测试系统

  

  Keysight TD-LTE MIMO发射端测试系统

  

   是德科技借助PXB N5106A多通道信道衰落仿真器,MXG N5182A矢量调制信号源以及MXA/EXA系列信号分析仪搭建的LTE MIMO测试系统可真实模拟和仿真3GPP协议最新标准的MIMO测试,如上图所示,该系统通过PXB N5106A连接MXG 5182A产生TD-LTE标准的2*2MIMO信号,然后通过2台MXA进行发射端分析,借助89601A软件平台可对3GPP Conformance规范的各项MIMO指标进行严格的标定及测试。

  Keysight TD-LTE BBIC/RFIC测试系统方案

  

  针对目前LTE的终端BBIC和RFIC测试需求,是德科技除了可以通过逻辑分析仪加89601A矢量分析软件实现数字基带域的分析以外,还可通过N5343A和N5344A分别实现数字基带域的DigRF v3和v4标准接口协议的激励和分析。

  4 总结

   1. 是德科技借助其在无线,数字以及射频测试领域多年的积累和经验第一时间时间推出LTE解决方案,可以真正帮助可以对于基站收发信机、基站功放、直放站、终 端射频芯片、基带芯片分别用不同的测试系统来完成,目前国内做LTE相关设备厂商如大唐、普天、中兴、华为等相关厂商均选择是德科技的测试方案作为其 LTE相关研发测试的工具。

  2. 是德科技强大的研发工具矢量信号分析软件89601A可连接是德科技从基带端的示波器到逻辑分析仪再到中频射频端的频谱分析仪、信号源,甚至连LTE综测 仪都可通过该软件连接控制,并分别对数字基带、模拟基带、中频、射频信号进行分析,从而使得我们的客户可以在研发中快速准确定位其问题所在。

   干扰信号和有效信号还有另外一个特点,那就是干扰信号和有效信号会随着车速、风速的快慢而改变。抗干扰的方法如图4所示,首先由RC 组成的低通滤波器滤除高频干扰信号,并对输入信号的幅值进行限幅与整形,再由光电隔离器件实现数据采集器与变频器之间的隔离,从而实现数字信号通道的抗干扰要求。

  文章详情:4G TD-LTE测试解决方案全方位解读
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