LTE测试技术原理及解决方案集锦

接入信道的数量。而在TDD中，时间资源已经在上下行进行了分配，同时由于不同的上下行配比的存在，可能存在上行子帧数目很少的情况（如DL:UL=9:1），因此在TDD中需要支持频分的随机接入信道，即在同一时间位置上采用不同频率的区分提供多个随机接入信道，以为系统提供足够的随机接入的容量。

　　在FDD的情况下，上、下行的资源在单方向上都是连续的，而且子帧数目相等。因此，以下行为例，在进行物理层的HARQ时，下行数据与上行的ACK/NAK之间可以建立一对一的对应关系。与此不同的是，在TDD的情况下，单方向的资源不是连续的，因此可能无法获得对应的时间上的资源。另外，上下行配比的设置可能使得上下行的子帧数目不相等，因此无法建立一一对应的关系，所以这些都需要进行针对性的设计。在TD-LTE，为了解决以上问题，引入了Multiple ACK/NAK的概念，即使用一个ACK/NAK完成对前续若干个下行数据的反馈，这样就解决了上下行时隙不对称带来的反馈问题。在另一个方面，同时还减小了数据的传输时延，数据无需再等待到下一个上行时隙以进行反馈了。当然，该方案可能引起的不必要的过多重传也需要引起注意。

　　同步信道

　　同步信道是另一项体现不同双工方式的设计。LTE中用于小区搜索的同步信道包括"主同步信号"和"辅同步信号"。在两种帧结构中，同步信号具有不同的位置：在FDDType1中两个同步信号连接在一起，位于子帧0和5的中间位置；而TDD Type2中，辅同步信号位于子帧0的末尾，主同步信号位于特殊子帧，即DwPTS的第三个符号。在两种帧结构中，同步信号在无线帧中的绝对位置不相同，更为重要的是，主、辅同步信号的相对位置不同：在FDD中两个信号连接在一起，而在TDD中两个信号之间有两个符号的时间间隔。由于同步信号是终端进行小区搜索时最先检测的信号，这样不同的相对位置的设计使得终端在接入网络的最开始阶段就可以检测出网络的双工方式，即FDD或者TDD。

　　随机接入前导

　　随机接入前导（Random Access preamble）的设计是LTE对TDD的另一项特殊设计。在LTE中，随机接入序列采用如下图所示的5种随机接入序列格式。其中最后一种随机接入序列格式是TDD所特有的，由于其长度明显短于其它的4种格式，因此又称为"短RACH"。采用短RACH的原因也是与TDD关于特殊时隙的设计相关的，如同图中所描述的，短RACH在特殊时隙的最后部分（即UpPTS）进行发送，这样利用这一部分的资源完成上行随机接入的操作，避免占用正常子帧的资源。采用短RACH时，需要注意的一个主要问题是其链路预算所能够支持的覆盖半径，由于其长度要大大的小于其它格式的RACH序列，因此其链路预算相对较低，相应的适用于覆盖半径较小的场景（根据网络环境的不同，约700m～2km）。
　　更多LTE测试资讯与技术文章，可参阅电子发烧友Designs of week栏目——"化解4G质量难题？LTE测试出狠招！"

是德科技TD-LTE基站性能测试方案

　　引言

　　LTE（Long Term Evolution长期演进）技术是第三代移动通信演进的主要方向。作为一种先进的技术，LTE系统在提高峰值数据速率、小区边缘速率、频谱利用率、控制 面和用户面时延以及降低运营和建网成本等方面拥有巨大的优势。同时，LTE系统与现有系统（2G/2.5G/3G）能够共存，并且实现平滑演进。

　　LTE系统按照双工方式分为频分双工（FDD）和时分双工（TDD）两种。其中LTE-TDD制式相对于FDD制式具有频谱利用灵活、支持非对称业务等诸多优势，是中国通信业界力推的国际标准。

　 　系统吞吐率是衡量TD-LTE基站综合性能的重要指标。吞吐率的测试需要基站（eNB）与测试仪器（模拟UE）之间实现实时反馈并动态调整。测试仪器不 仅需要能够生成符合3GPP标准的TD-LTE 上行信号，同时还需要模拟相应的信道衰落模型，并且根据基站下发的ACK/NACK指令实时地调整发射信号的编码冗余因子，以模拟真实的通信环境。本方案 采用是德科技基带信号发生器与信道仿真仪N5106A PXB或是德科技最新信号发生器N5182B/N5172B作为测试平台，通过Real-time版本的Signal Studio N7625 for LTE TDD生成TD-LTE测试信号并经过信道衰落后送给基站进行解码从而可以统计出基站的吞吐率。

　　1 HARQ测试原理

　　1.1 上行HARQ方式

LTE系统将在上行链路采用同步非自适应HARQ技术。虽然异步自适应HARQ技术与同步非自适应技术比较，在调度方面的灵活性更高，但是后者所需的信 令开销更少。由于上行链路的复杂性，来自其他小区用户的干扰是不确定的，因此基站无法精确估测出各个用户实际的信