中规模集成电路功能测试仪设计方案详解

时间：09-07 来源：互联网点击：

明可以开始测试操作。由按键1选择所要测试的芯片，显示光标停留的芯片型号表示是当前待测芯片。每按1次选择键，光标指向下一个型号，不断地按键可以循环选择。当光标移到所要测试的芯片时，按下确定键2，接下来由单片机控制，开始自动测试该芯片，此时对应该芯片的指示灯亮;然后由外部电路或单片机给待测芯片一定的模拟或数字输入量，经过每个芯片的测试电路后，通过MAX197进行处理(或直接送到单片机)，与单片机中预存的标准值进行比较。如果测试值在标准值附近的一定范围内，则芯片正常，测试指示灯常亮，液晶显示器显示OK;否则，芯片出错，测试指示灯闪烁，液晶显示器显示BAD.此芯片测试完毕，按下复位键3，即回到初始状态，可以进行下一轮测试。软件流程图如图7所示。