微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 硬件设计 > 硬件工程师文库 > 高精度低成本:一款LED老化测试方案

高精度低成本:一款LED老化测试方案

时间:08-23 来源:艾德克斯 点击:

案提出了特殊要求。上文中介绍的LED 老化测试方案,可广泛应用于LED 照明以及背光产品的老化测试,并且表现堪称完美。选择专业应用于LED 行业的电源及控制软件,搭建上述测试系统,可得到最为精准、有效地数据。

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top