TI数字中频芯片GC6016配置与应用分析

r配置

　　GC6016支持各节点的数据采集。该功能可用于问题定位、GC6016监控以及接收ADC同道的性能分析。数据采集功能的配置流程如下。需要说明的是，CB读出来的数据一般是IQ交织的格式（某些特殊情况如实反馈模式下则为连续数据），每个数据 18bit。

　　图 7. GC6016数据采集流程

　　6、 GC6016功率统计模块配置

　　GC6016内部有两个功率统计模块。一个是 BB power统计模块，一个是IBPM模块。BBpower模块可以同时统计某 DDUC内部 12个载波的功率，但是同一时刻只能统计一个 DDUC。IBPM包含 IBPM0、IBPM1及 IBPM2等3个子模块，可以同时统计3个节点的功率。各IBPM子模块还包括 hist功能，其信号来源和对应的IBPM子模块一致，但是三个子模块公用hist threshold。Hist功能主要用于信号估计， 每个 hist子模块有两个估计通道。

　　BBpower模块的配置流程如下图示。其中，interval time共计 9bit，单位为 64 BB samples。Integration time共计 13bit，单位为 4 bb samples。功率寄存器为AI寄存器。

　　图 8. BBpower统计模块配置流程图

　　IBPM模块的配置流程如下图示。需要说明的是，如果配置某 IBPM模块为RX通道功率统计，则在配置IBPM node的同时还需要选择接收通道。

　　图 9. IBPM配置流程图

　　7、 GC6016 发送测试信号

　　GC6016可以发送测试信号用于系统调试定位或者发射通道性能测试。GC在 BB或者 DDUC内部通过简单的配置即可发射单音（常数配合nco）、lfsr及 ramp等测试信号，极大地方便调测以及问题定位。

　　BB side发射测试信号的流程如下图所示。该testgen的位置在 BBgain之前，BB FIFO之后。如果需要disable该功能，只需将对应的testmode bit清 0即可。

　　需要注意，如果要在测试模式下修改信号幅度，则需要先退出测试模式，修改完测试信号幅度之后再次启动测试模式。

　　图 10. BB test gen启动流程图

　　DDUC side发射测试信号的流程如下图所示。该testgen的位置在每个DDUC的 Farrow处。需要说明的是，该配置会导致 GC配置被修改，因此需要在 disable testgen之前将对应寄存器修改回原值。对于多载波系统，建议在summer mapping环节关掉多余载波，只保留单载波用于测试。

　　图 11. FRW testgen 启动流程图

　　需要说明的是，如果通过BB或者DDUC发送单音，则需要考虑各级滤波器的影响。

　　GC也支持从BUC发送 test pattern测试和DAC的接口。也支持 BUC发送常数，然后调整 buc nco的模式发单音测试 DAC。

　　8、 GC6016频点配置流程

　　用户可能会修改载波频点。该功能可通过如下流程实现。注意频率控制字为48bit。

　　图 12. GC6016频点配置流程图

　　用户也可能会修改 nco的相位。相位的计算公式如下：phase（度）=360*value/65535. 每一个载波有对应的相位寄存器，写入需要的相位值之后，再用对应的同步是能寄存器同步一下即可。

　　9、 总结

　　本文详细说明了GC6016中用户常用功能的配置流程。本文的一些内容对于 GC5330的调试和定位也有所助益。作者希望本文能对用户开发、调试 GC6016提供指导和帮助。

　　10、 参考资料

　　GC6016-wideband transmit-receive digital signal processors

　　（ http://www.ti.com/lit/ds/slws227a/slws227a.pdf ）