IC测试原理解析(第一部分)

。VOL和VOH规格用来保证器件在器件允许的噪声条件下所能驱动的多个器件输入管脚的能力。

电源消耗（ICC，IDD，IEE）。该项测试决定器件的电源消耗规格，也就是电源管脚在规定的电压条件下的最大电流消耗。电源消耗测试可分为静态电源消耗测试和动态电源消耗测试。静态电源消耗测试决定器件在空闲状态下时最大的电源消耗，而动态电源消耗测试决定器件工作时的最大电源消耗。

第三节 交流参数测试

交流参数测试测量器件晶体管转换状态时的时序关系。交流测试的目的是保证器件在正确的时间发生状态转换。输入端输入指定的输入边沿，特定时间后在输出端检测预期的状态转换。

常用的交流测试有传输延迟测试，建立和保持时间测试，以及频率测试等。

传输延迟测试是指在输入端产生一个状态（边沿）转换和导致相应的输出端的状态（边沿）转换之间的延迟时间。该时间从输入端的某一特定电压开始到输出端的某一特定电压结束。 一些更严格的时序测试还会包括以下的这些项目：

三态转换时间测试-

TLZ，THZ: 从输出使能关闭到输出三态完成的转换时间。

TZL，TZH: 从输出使能开始到输出有效数据的转换时间。

存储器读取时间－

从内存单元读取数据所需的时间。测试读取时间的步骤一般如下所示：

1.往单元A写入数据’0’，

2.往单元B写入数据’1’，

3.保持READ为使能状态并读取单元A的值，

4.地址转换到单元B，

5.转换时间就是从地址转换开始到数据变换之间的时间。

写入恢复时间 –在写操作之后的到能读取某一内存单元所必须等待的时间。

暂停时间- 内存单元所能保持它们状态的时间，本质上就是测量内存数据的保持时间。

刷新时间 – 刷新内存的最大允许时间

建立时间 － 输入数据转换必须提前锁定输入时钟的时间 。

保持时间 － 在锁定输入时钟之后输入数据必须保持的时间。

频率－ 通过反复运行功能测试，同时改变测试周期，来测试器件运行的速度。周期和频率通常通过二进制搜索的办法来进行变化。频率测试的目的是找到器件所能运行的最快速度。

上面讨论了数字集成电路测试的一些基本目的和原理，同时也定义了测试上的一些关键术语，在接下来的章节里，我们将讨论怎么把这些基本原理应用到实际的IC测试中去。

参考文献：

Mark Burns， Gordon W。 Roberts

An Introduction to Mixed-Signal IC Test and Measurement Soft Test Inc。

Soft Test Inc。

The Fundamentals of Memory Test Methodology

The Fundamentals of Digital Semiconductor Testing

Anthony K。 Stevens

Introduction to Component Testing

Agilent Application Notes 1313

Agilent Application Notes 1314

许伟达

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