微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 测试测量 > 测试测量技术文库 > 关于网络时代的测试新技术

关于网络时代的测试新技术

时间:03-16 来源:亚太资源网 点击:

问题是:老化加电和产品测试分离,需人工参与,工作量大;数据采用人工记录,不利于数据统计与分析。

要改变以上的状况,采用自动测试设备来完成长时间通电老化试验是必然的。但由子长时间通电老化试验对测试系统的通道数量要求大,而测试参数和测试功能相对简单,若采用GPIB和VXI仪器,费用会非常昂贵。然而,有了LXI C类产品Agilent34980A,情况就大不一样了。

5.22基于LXI C类仪器的解决方案

针对应使用要求,基于Agilent 的LXIC类仪器的解决方案完全解决了上述问题,在不增加设备成本的基础上,大大地提高了生产效率,完全替换了原有的试验设备和试验方式。LXI老化试验系统基本构成见原理图8。

在LXI老化试验系统中,Agilent 5700A具有1500W的供电能力,由计算机通过Agilent 34970A进行供电输出控制,并根据要求改变输出电压大小。根据功能要求,Agilent34980A中配备相应的测量模块,完成老化过程中的自动测试。

测试数据在测试计算机上显示,对于超限值进行报警,并将数据存入数据库中进行统计和分析工作。

5.221 LXI老化试验系统的基本配置如下。
*计算机
*服务器
*LXI: Agilent 34980A-C类测量/开关组合;Agilent 34922A70通道继电器多路转换器;Agilent 34937A-32通道继电器开关;Agilent 34950A-4通道隔离D/A;Acery 34961X-时序测量模块;Agilent N5700A-系统电源
*测试软件:是基于Microsoft Visual Studio.net、Agilent T&M Toolkit和SQL Server完成的。
*自检设备
*测试电缆
*测试接口:测试接口是根据产品的测试要求专门设计的,可根据被试品的多少灵活地进行调整,
*标准机柜

5.222结果:使老化试验更轻松

用性价作高的LXI仪器Agilent 34980A和N5700A,完整地替换了传统老化台的功能,扩展性非常好,试验效率也有了大幅度的提高,并使老化试验数据的分析更加快捷。

6、结束语-LXI仪器的未来

LXl的妙处在它的开放性。它不仅能容纳基于LAN的设备,还能通过转换器容纳GPtB、VXl和PXl设备。虽然GPIB仪器已经为测试和测量很好地服务了30多年,但LXI无疑将会成为测试和测量的下一个标准。C类仪器会代替GPIB成为新的台式仪器标准。B类仪器将在远程测量的同步中开辟新的可能性。而A类LXl将成为合成仪器和无面板模块的标准.LXl将被工业界广泛采用,开创出测试和测量新的纪元。

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top