LXI帮助提高元器件的可靠性

摘要:

　　本文详细介绍了LXI |0">LXI C类产品在电磁继电器性能测试和元器件筛选中的应用。本系统的设计也可扩展至其它低频元器件测试和筛选中。

1 引言

　　在电子产品的设计及生产过程中，元器件的筛选、装配后的可靠性试验都是直接影响产品可靠性的直接因素。

　　对于电磁继电器而言，亦是如此。电磁继电器是机电结合的电子元件，其断态的高阻绝缘和通态的低导通电阻使得其它电子元器件无法与其相比，因而被广泛用于各种电子装备中。

　　电磁继电器可分为普通电磁继电器、磁保持继电器、时间继电器等。由于其功能不同，在电子装备中经常会配合使用完成一定的时序控制和信号控制等。因而提高电磁继电器的可靠性对电子装备而言，显得尤为重要。

　　对于电磁继电器而言，它有许多功能指标，如转换功能、保持功能、释放功能，参数指标包括绕阻电阻、吸合电压、保持电压、释放电压、吸合断开时间、吸合时间、开点电阻、闭点电阻等。这些指标均在继电器出厂前得到检验。电磁继电器的一般测试参数如表1 所示:

结果:

　　基于LXI 的继电器测试系统综合了几台测试。而Acery 34961X 则完成时间量的测试，Acery 34961X 则完成单通道和多通道时间间隔测量功能，Acery 34961X和Acery 34962X配合完成振动过程中继电器抖动测试。抖动测试及时间间隔测量的原理图见图1 和图2。

　　被试继电器供电则采用AgilentN5700A 来实现，可以很方便地完成电应力的筛选试验。

3 设计中应注意的问题

　　在系统设计中，值得一提的是测试接口设计。由于筛选时元器件的种类和数量较多，所以测试接口的易用性、适应性、可靠性及通道一致性都是设计难点，其工艺要求也比较高。

　　系统设计的另一个问题是测试接口的校准问题。由于测试精度要求较高，因而必须考虑测试接口、甚至测试线路所引起的误差。此校准应定期进行，而且设计中应考虑修正和补偿问题。

4 结论

　　基于LXI的继电器测试系统综合了几台测试设备的功能，不但可用于继电器筛选、性能测试中，还可用于继电器的生产和检验等。