太空射线-中子对汽车电子设备影响及分析

1百万门器件为1.054E-4的扰乱率乘以每天每系统为模拟4.38E-06的扰乱率或4375FIT。这意味着，如果同一供应商在50万辆车中采用基于1百万门SRAM FPGA的安全系统，把扰乱数1.05E-4乘以路上的车辆/系统的数量，就得到所有车辆每天有52.5的总扰乱数(假设车辆做恒速工作)。

这就相当于每27.4分钟出现一次扰乱。即使对于每天两小时的中等车辆使用率，仍然有每天两次扰乱。因为这些都是稳故障，它们都将持续下去，直到SRAM FPGA被二次加载(通常要重新上电或强迫配置)。

在目前的半导体技术中，器件中的软错误已经受到高度关注。随着器件尺寸持续缩小，人们广泛认为这些软错误将成为主要问题。这些错误可能常常极大地降低系统的可用性。为了把系统的可用性维持在可以接受的水平，人们强烈要求避免出现软错误。

未来要做的工作

当选择FPGA的时候，至关重要的是评价每一种可编程架构所有权的总成本，并识别具有本质上可靠的内核技术的供应商，不要采用为低档次要求应用而设计的二等品质的商用产品。

对于采用SRAM FPGA的设计工程师来说，有必要实现检测和校正配置错误的电路，尽管这会增加系统成本和复杂性。此外，辐射测试数据表明，反融丝和基于闪存的FPGA不易于出现因中子导致的扰乱而造成的配置丢失。这使它们特别适用于可靠性要求高的应用。

现在，想象以下稍微不同的外景：你以每小时75英里的速度驾驶着新的2006车型在高速公路奔驰，耳畔聆听着优美的Steve Miller的Greatest Hits乐曲。由于对引擎管理系统中采用的基于非易失性闪存的FPGA充满信心，你推杆加速狂飙，体验着极速带来的快乐，享受着舒适和无故障的旅行。