爱德万发表新款多功能/低成本高速存储器测试系统

爱德万测试(Advantest)近期发表专为高效能通用快闪储存(UFS)元件与PCIe BGA固态硬碟(SSD)所设计的低成本测试解决方案--T5851系统，将可满足智慧型手机、平板电脑、超可携式产品等低功耗、行动应用市场对于记忆体IC的强劲需求。

爱德万测试执行董事山田弘益表示，低功耗行动电子产品的趋势，带动高阶储存解决方案的需求，由于这些储存产品采用高速省电的序列介面与高效能储存协定，记忆体IC制造商需要与过去不同等级的测试系统，不但要专为这类元件的系统层级测试制程所设计，还须兼具一般记忆体测试系统所拥有的可靠性、低成本、支援大量测试的能力，而新款产品可满足这些要求。

新推出的测试系统分别提供量产机型与工程开发机型，让使用者可随需弹性运用于可靠性测试、品质检验测试、测试程式开发测试等用途，也能在搭载自动化元件分类机(如该公司的M6242分类机)的架构下，应用于量产环境。

此外，新产品经实证的测试架构，与旗下固态硬碟测试解决方案MPT3000产品系列一致，并采用与T5800系列产品相同的多功能平台与FutureSuite软体，可让使用者降低投资成本与建置风险。