锂离子电池管理芯片的研究及其低功耗设计 — 数模混合电路的低功耗设计方法(二)
储器中。这将降低电路工作速度、增加额外的芯片面积以提供校准(Calibration)和复制(replica)电路。在许多高速低功耗电路中,系统通常不允许被中断,或者所需的连续工作时间太长,不能保证失调能及时被纠正。因此,通常认为精度完全是由工艺的匹配性能所决定,典型地,如在高速AD或在DA转换器中,位的精度和晶体管的匹配成正比。
通常,两个理想晶体管间的失配用两个参数来表征,一个是阈值电压失配V T0≡VT01 -VT02,用标准偏差σVT来表示;另一个是电流增益系数β失配△β/β=(β1 -β2)/β,用标准偏差σβ来表示。它们普遍满足下式:
式中,AVT0、Aβ是与工艺相关的常数。
当晶体管为电压偏置时,器件的栅压相同而电流是变量;对于具有相同电流偏置的两个器件(如差分对),电压将相关变化。根据独立的失调分布,可以推出这种相关变化的分布:
MOS管工作在强反型时,式(2.2.16)变为
由式(2.2.17)可以看出,当变量为电流时,增加栅驱动电压可以提高精度。
这也证明了在电流模式电路中,为了达到最佳精度,必须将器件偏置在深饱和区。
与之相反的是,在电压模式电路中,为减小失调电压,必须尽可能地降低Vov的值(令Vov =VGS-VTH),通常可将此值设置在强反型边缘。
式(2.2.17)还可以看出,要提高电路精度,就需要大尺寸的器件,但与此同时,电路节点的负载电容也增加,为维持给定的速度,就需要更大的功耗。对于单端输入,工作在强反型饱和区的器件,增益带宽由下式决定
对于给定的V ov,定义式(2.2.17)中的电流精度为1/Acurracy2=[σ(△ID)/ID]2,电路所消耗的功率为P=IVDD,则结合式(2.2.18),得到
式(2.2.20)给出的功耗-速度-精度的关系式,它表明在给定的电源电压下,功耗与电路精度的平方成正比,即意味着提高精度和提高速度相比,要付出更大的功耗代价。对于许多更加复杂的电路,如电流信号处理电路、差分对和运放等电压信号处理电路,甚至是多级电路中,式(2.2.20)仍然适用。
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