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数字电路中△I噪声的危害

时间:11-13 来源:电子技术应用 点击:

随着数字电路向高集成度、高性能、高速度、低工作电压、低功耗等方向发展,数字电路中的△I噪声的特性和抑制△I噪声的技术成为一个亟待系统、深入研究的领域。

△I噪声的产生过程及其基本特点表明[1,2]:△I噪声是由数字电路的电路结构和工作过程决定的,恰当的电路设计只能在一定程度上减小(而不可能消除)△I噪声。△I噪声是数字电路固有的。数字电路中不同单元产生的△I噪声会发生叠加,电路的规模越大,叠加出现的可能性越大,造成的电流尖峰脉冲越强;△I噪声是宽带噪声源,频谱宽度主要由电路的速度决定,速度越高,频谱范围越宽;△I噪声同时产生传导骚扰和辐射骚扰,电路的速度越高,辐射发射越强。

本文在△I噪声的产生过程及其基本特点的基础上,研究△I噪声的主要危害。

1电源电压波动

1.1寄生电阻引起的电源电压波动

数字IC内部和数字系统中都有电源分配网络。电源分配网络的导线都有寄生电阻。电源电流尖峰脉冲(△I噪声)通过电源分配网络时,会产生欧姆电压降。从而引起电源电压波动。

对数字IC内部的电源分配网络,以目前流行的"Vanilla" 0.25μm CMOS工艺为例,考虑一条长2cm的电源线(VDD)或地线(IC内部互连线),其上每1μm宽度的电流为1mA。这一电流密度接近于一条铝线所能承受电流的最大值,原因是电迁移(electronmigration)的影响[3]。该导线(1μm宽度)的电阻为1kΩ。一个1mA/μm的电流将导致1V的电压降。这一电源电压波动将降低噪声容限,并使电路各点的逻辑电平与离开电源端的距离有关。
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如图1所示,把一个离电源引线和地引线都很远的反相器连接到一个接近电源的器件上。由于电源地线上的电压降IR(欧姆电压降)引起的逻辑电平差可能使晶体管TN部分导通,可能引起一个预充电的节点X意外放电。如果连接的门是静态的,则有可能引起静态功耗。

总之,来自片上逻辑电路和存储器及输入/输出(I/O)引线上的电流脉冲会造成电源分配网络上产生电压降,这是片上电源噪声的主要来源。除了造成可靠性降低的风险外,电源网络的欧姆电压降也会影响系统的性能,因为电源电压的一个很小的下降都可能造成延时的明显增加。

  无论是数字IC内部的电源分配网络的导线(目前多用铝),还是数字系统中的电源分配网络的导线(一般用铜),都存在趋肤效应(skin effect)。趋肤效应使导线的有效导电截面积随信号频率的升高而减小,使导线的电阻随信号频率的升高而增大(闂傚倸鍊搁崐鎼佸磹閹间礁纾归柟闂寸绾惧綊鏌熼梻瀵割槮缁炬儳缍婇弻鐔兼⒒鐎靛壊妲紒鐐劤缂嶅﹪寮婚悢鍏尖拻閻庨潧澹婂Σ顔剧磼閹冣挃闁硅櫕鎹囬垾鏃堝礃椤忎礁浜鹃柨婵嗙凹缁ㄥジ鏌熼惂鍝ョМ闁哄矉缍侀、姗€鎮欓幖顓燁棧闂備線娼уΛ娆戞暜閹烘缍栨繝闈涱儐閺呮煡鏌涘☉鍗炲妞ゃ儲鑹鹃埞鎴炲箠闁稿﹥顨嗛幈銊╂倻閽樺锛涘┑鐐村灍閹崇偤宕堕浣镐缓缂備礁顑呴悘婵嬫倵椤撶喍绻嗛柕鍫濈箳閸掍即鏌涢悤浣镐簽缂侇喛顕ч埥澶娢熻箛鎾剁Ш闁轰焦鍔欏畷銊╊敊鐠侯煈鏀ㄧ紓鍌氬€风粈渚€顢栭崟顖涘殑闁告挷鐒﹂~鏇㈡煙閹规劦鍤欑痪鎯у悑閹便劌顫滈崱妤€骞嬮梺绋款儐閹瑰洭骞冨⿰鍫熷殟闁靛鍎崑鎾诲锤濡や胶鍙嗛梺鍝勬处濮樸劑宕濆澶嬬厵闁告劘灏欓悞鍛婃叏婵犲嫮甯涢柟宄版嚇瀹曘劍绻濋崒娑欑暭闂傚倷娴囧畷鐢稿窗閸℃稑纾块柟鎯版缁犳煡鏌曡箛鏇烆€屾繛绗哄姂閺屽秷顧侀柛鎾寸懇椤㈡岸鏁愰崱娆戠槇濠殿喗锕╅崢鍏肩濠婂懐纾奸柣鎰靛墮椤庢粌顪冪€涙ɑ鍊愮€殿喗鐓¢、妤呭礋椤戣姤瀚奸梻浣告贡鏋繛鎾棑缁骞樼€靛摜顔曢柣鐘叉厂閸涱厼鐓傞梺杞扮閻楀﹥绌辨繝鍥ч柛娑卞枛濞呫倝姊虹粙娆惧剬闁告挻绻勯幑銏犫攽閸モ晝鐦堥梺绋挎湰缁嬫垵鈻嶉敐鍜佹富闁靛牆绻掗崚浼存煏閸喐鍊愭鐐插暞缁傛帞鈧絽鐏氶弲顒€鈹戦悙鏉戠仸閽冮亶鎮归崶鈺佷槐婵﹨娅i幏鐘诲灳閾忣偆浜堕梻浣藉吹閸o附淇婇崶顒€绠查柕蹇曞Л閺€浠嬫倵閿濆簼绨介柛濠勫仱濮婃椽妫冨ù銈嗙洴瀹曟﹢濡搁妷顔藉枠濠电姷鏁告慨鐑藉极閸涘﹥鍙忛柣鎴f閺嬩線鏌熼梻瀵割槮缁炬崘顫夐妵鍕冀椤愵澀绮堕梺缁樺笒閻忔岸濡甸崟顖氱闁瑰瓨绻嶆禒鑲╃磼閻愵剙鍔ゆい顓犲厴瀵鎮㈤悡搴n槶閻熸粌绻掗弫顔尖槈閵忥紕鍘介梺瑙勫劤椤曨厼煤閹绢喗鐓欐い鏃傜摂濞堟粓鏌℃担鐟板闁诡垱妫冮崹楣冩嚑椤掍焦娅﹀┑鐘垫暩婵參骞忛崘顔肩妞ゅ繐鍟版す鎶芥⒒娓氣偓閳ь剚绋撻埞鎺楁煕閺傝法肖闁瑰箍鍨归埞鎴犫偓锝庝簻缁愭稑顪冮妶鍡樼闁瑰啿绉瑰畷顐⑽旈崨顔规嫽婵炶揪绲介幉锛勬嫻閿熺姵鐓欓柧蹇e亝鐏忕敻鏌嶈閸撴艾顫濋妸锔芥珷婵°倓鑳堕埞宥呪攽閻樺弶鎼愮紒鐘垫嚀闇夐柨婵嗙墕閳ь兛绮欐俊鎼佸煛閸屾粌寮抽梻浣告惈閸熺娀宕戦幘缁樼厱閹艰揪绱曢敍宥囩磼鏉堚晛浠辨鐐村笒铻栧ù锝呭级鐎氫粙姊绘担鍛靛綊寮甸鍕仭闁靛ň鏅涚粈鍌溾偓鍏夊亾闁告洦鍓涢崢鐢告⒑閹勭闁稿鎳庨悾宄扮暆閳ь剟鍩€椤掑喚娼愭繛鍙夌矒瀵偆鎷犲顔兼婵炲濮撮鎰板极閸ヮ剚鐓熼柟閭﹀弾閸熷繘鏌涢悙鍨毈婵﹦绮幏鍛存嚍閵壯佲偓濠囨⒑闂堚晝绉剁紒鐘虫崌閻涱喛绠涘☉娆愭闂佽法鍣﹂幏锟�...)[4,5]。

由于△I噪声是宽带噪声源,所以趋肤效应会使电源分配导线的电阻显著变大(相对于直流电阻),进而使欧姆电压降显著变大。

1.2 寄生电感引起的电源电压波动

电源分配网络还有寄生电感,数字IC的电源地线也有寄生电感。

电源电流尖峰脉冲(△I噪声)通过电感时,会产生感应电压,从而引起电源电压波动。

单个TTL反相器引起的电源电流尖峰脉冲最小值约为30mA[1,2],设门电路的状态转换时间为2ns,设电源地线的寄生电感L=500nH,则引起的电源电压波动为:
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这样高的尖峰脉冲电压通过逻辑器件之间的驱动线耦合到其他逻辑器件的输入端,幅值很可能超过TTL系列输入低电平的上限值0.8V,从而造成逻辑电路的误动作。
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CMOS数字IC中电源电流尖峰脉冲(△I噪声)经封装寄生电感引起的电源电压波动如图2所示。图中电路是数字IC输出压焊块驱动器(output pad driver)的最后一级,它驱动一个10pF的负载电容,电压摆幅(voltage swing)为2.5V。反相器的尺寸设计成使输出信号的上升时间和下降时间(tr和tf)等于1ns。由于电源和接地线是通过电源引线连到外部电源上的,所以两根连线都具有一个寄生串联电感L。对于传统的穿孔(through-hole)封装技术,其电感一般为2.5nH左右。为简化分析,假设反相器的作用像一个电流源,以不变的电流充(放)电负载电容。为达到1ns的输出上升时间和下降时间,所需要的平均电流为:

Iav=[10pF×(0.9-0.1)×2.5V]/1ns=20mA

当这一情形发生在缓冲器输入端并由一个很陡的阶跃函数来驱动时,若tf=50ns,则仿真得到突变的电流变化可在寄生电感上引起高达0.95V的尖峰电压。事实上,如果这一电压降本身不能使翻转变慢和降低对电流的要求,它的值会更大。然而,如此大的电源电压波动是不能允许的。

在一个实际的电路中,单个电源引线常常用于许多门或输出驱动器。这些驱动器同时切换会引起更为严重的瞬态电流和电压降。结果,内部电源电压与外部电源电压有相当大的偏差。例如,如果一条输出总线的16个输出驱动器的电源线都连到同一条封装引线上,则它们同时切换时会引起至少1.1V的电压降。

1.3 电源电压波动与时钟抖动

时钟是数字系统的核心之一。时钟的产生与分布对系统的性能和功耗都有显著影响。时钟偏差(clock skew)和时钟抖动(clock jitter)[6]是主要问题,它们会导致数字系统的性能下降或工作出错。然而,电源电压波动是引起时钟分布网络中抖动的主要原因[7]。

从上述分析可见,△I噪声会引起电源电压波动。电源电压波动造成的不良后果是多方面的、是严重的。考虑到数字电路的规模越来越大及△I噪声的叠加性,这一问题会变得更加严重。

一个数字系统要求对各个门电路提供稳定的电源电压。为了确保正常工作,电源电压的波动应控制在几百毫伏以内。所以,电源电流尖峰脉冲问题,已成为现代数字设计中必须解决的关键问题之一。

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