超采样对SAR/Flash ADC有用么？

oversamling增加resolution有先決條件
INL要夠才有辦法

any book or paper gives detail explanation to this?

The answer is yes. But it is expensive to do so.

就是说比如SARADC用的NbitDAC必须能满足到N+xbit的INL精度才能通过超采样得到输出N+xbit的数据?

兄弟你是来灌水的么?呵呵
希望说得详细些，不要这样半仙，谢谢：）

我用Verilog-A 理想的ADC+DAC仿真，比较超采和不超采，效果也很微弱……这里应该没有你说的INL的问题了
比如从DC信号的measure看，量化噪声集中在DC，fsignal from DC to F , Q from DC to what?
理论上想越靠近dc处，量化噪声和信号或者DC的相关性越强，这样每本书上说的“assumed to be white noise”的先觉条件到底是什么，在多大的程度上成立呢?

还有量化噪声总能量不变的假设也是不成立的……

可以參閱一下Johns的第537頁

能提供一下具体的书名吗?
不胜感激

書上寫的是12bit要OSR成16bit
12bit ADC必須INL < 1/(2^4)
INL < 0.0625LSB ,這個INL有點難
不過這樣應該是有道理的
不然任何ADC只要OSR就可以達成high resolition
也是相當不合理

具體書名
Analog Integrated Circuit Design
David Johns
Ken Martin

这个是必须的前提之一，in+in_noise+dac_error+qnoise=out
这里只是保证dac_error不会domain
但是现在我是觉得
1.量化噪声white
2.量化噪声超采与不超采总能量相等
3.超采后量化噪声会平摊
每个假设都很critical……
汗，几十本书就没这本，谢谢了~

“assumed to be white noise”的先决条件是每次过采样的ADC的值随机变化，即ADC是“繁忙”的

这不是假设，而是能量守恒，一定成立

这个是时域与频域能量相等的
但是我的问题是就在时域上看，超采样不会引人更多的量化噪声?
画了一个正弦的波形，然后描了几段点，1bit量化器，正好采样在1，-1，量化噪声为0，超采样引人的量化噪声肯定大于了……

正确，DAC也要这样的线性要求

这样如何保证anti-aliasing ?
超采样的成立是不是仅仅针对有复杂loop使得量化器 的输入 是busy 与信号频率的相关性不强?

3.超采后量化噪声会平摊
如果超采ADC后的值是“闲”的，量化噪声不会平摊，频率低端的噪声功率谱密度将比高端
大，但在0-Nfs上的积分值不变，等于噪声功率。越“忙”，功率谱密度越平均，均匀分布在0-Nfs上，这种忙如果是伪随机，谱线是离散一根一根的，如果是真随机，就是白噪声频谱

我现在用单频信号跑出来的结果就是验证了
1.总的噪声能量会增加。
可能处在“ 1.1正弦波正好采样在1，-1；超采增加量化噪声的极端情况 1.2总量化噪声能量不增加 ”之间
2.噪声能量在DC处，fb的倍数处最大（包括fb）。（相关采样用矩形窗，不相关用Parzen窗）
2.1噪声能量与采样时钟和信号的phase相关
3.量化噪声的分布类型与fb的绝对值关系不大（单频信号）
量化噪声的分布应该是“3.1只存在于DC处，输入信号为DC时 增大fb 3.2.1 DC处向外扩展 3.2.2 信号两边向外扩展 3.3 white ?”
现在感觉单频的如果是相关采样的话只在2的结果；如果不相关采样变化情况多些但是仍然是规律的。
谢谢

超采样对SARFlash ADC有用么

it is expensive to do so