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LDO采用NMOS作为pass device的问题

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
最近刚接触LDO,发现基本的linear LDO都是采用PMOS管作为pass device,是因为drop电压低,为PMOS的vdsat;
如果采用NMOS,drop电压为NMOS的vgs,为什么呢?不也是vdsat么?找个资料说是因为采用NMOS的话会受到EA输出电压的限制,想了半天还是没搞懂,求大神现身说法。

一般芯片内部最高电压就是Vin,那EA输出最高也只能到Vin(不用charge pump等升压技术的话),所以用NMOS的话,Source电压只能上到Vin-Vgs。

正解。

谢谢回复 还有疑问在于 对于LDO来说VDD也就是vin,对于PMOS,drop out电压就是vin-vout=vdd-vout也就是PMOS管的vds值,也就是论文里面说的vdsat,但是对于NMOS来说的话,drop out电压不还是vin-vout么,不是vdd-vout么,这样来说不还是NMOS管子的vds么?看来这样理解肯定有问题,但是我不知道问题出在哪儿了~

LDO NMOS的Dropout很大!

谢谢回复我知道很大 但是我没分析出来 可能这问题比较弱 还求详细说明?

你说的没错,但是如果一个LDO需要dropout电压很小或者Vin很低的时候,用N管就不好了。因为被N管的Vgs卡到了。

好像有点懂了 我再想想 十分感谢耐心解答 好人一生平安~

dropout一直都是Vout-Vin,所以N管P管都一样,问题是N管的dropout是建立在N管要导通的前提下,想想管子的工作区间就明白了。

仔细琢磨2楼回复

学习了,多谢

用P管是反向放大形式,用N管时是源跟随器工作形式,结构有本质的区别。用N管时,压差最小也要大于阈值电压Vth(阈值电压有多大,你懂的),因为若想要压差Vds=Vdd-Vs<Vth,由于Vg最大也只能为电源电压Vdd,这就意味着Vgs=Vg-Vs<=Vdd-Vs<Vth,也即管子工作在亚阈值区,这样电流输出能力肯定不行吧!Vg=Vdd这种状态已是压差为Vth时输出最大电流的极限状态了,此时要继续提高电流输出的话,只有增大Vgs了(增加过驱动电压),Vg已经不能再增加了(已经到Vdd了),只好降Vs了(Vs=Vout),这意味着压差进一步增大,不好吧!

两个vds值不一样。

恩恩 想明白了 十分感谢

是的 现在理解了 一个是饱和临界的vds一个是进入饱和区的vds

十分感谢详细的回答!

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