关于BQ40Z60的放电过流保护问题

我们用BQ40Z60做一款电源产品，原理图和规格书的参考电路一样，碰到如下问题想请教下。

1，当配置文件写进IC再读出来时发现Cell Gain，Pack Gain，BAT Gain，CC Gain，Capacity Gain这几个寄存器的值和当时配置的不一样，这是什么原因？

2，设定OCD1 Threshold为2.8A，delay 2S，OCD2 Threshold为3A，delay1S，但是为什么当输出电流达到2.8A时这个OCD1没有打开反而是AOLDL打开了？是哪里出问题了吗？

1. 这些值是校正以后自动更新的，不需要手动修改

2. 看一下参数里面OCD1和AOLDL这两个值设置的是不是一样的，这样就冲突了，OCD1是软体控制的放电过电流保护，

AOLDL是基于硬体的过放电流保护。两个设置一样的话肯定是先进hardware 保护。

1,这些值和硬件上有什么关系？

2，AOLD Threshold这个值设定为0xF4,那么它的硬件过流点是多少，怎么算，OCD1为-2800，过流点又是多少？

1. 放电过电流保护分两种software和hardware两种，两者的区别是前者电流小，延迟时间（s）后者电流大，延迟时间短（ms）

AOLD和ASCD属于后者。

2. 先了解AOLDL在什么情况下set，可以参考bq40z60 TRM 2.8.1 Overload in Discharge Protection.

AOLD threshold 是0XF4，可以根据A.1.1 Overload in Discharge Protection (AOLD) 找到表格中0X04对应的值除以Rsense就是电流，0X0F是延迟时间。

想请问下，OCD1他是怎么保护的，也是根据Rsense的电压和OCD1的值比较，再去动作DSG,CHG这两个开关吗，这应该是硬件保护吧

能否推荐本设计指南之类的书籍