BQ77910极易被干扰的问题

已经制做好了BQ77910的PCB，可以成功编程实现各个功能，但发现了一个奇怪的现象：以充电为例，当手或金属接近芯片或者编程接口（包括引脚BAT \ CHGST \ ZEDE \ SCLK \ SDATA \ EEPROM \ GND）时，充电器上的LED显示充电完毕，经测是两个FET都关断了。放电时也有类似现象，导致有时候成功有时候失败。

我的电路基本是参照“最新bq77910两端口激活电路”，只是CHGST端是通过5.1M和1M电阻分压，在接充电器时会连接PACK+和5.1M以拉高CHGST，经实验将分压电阻改成50K和10K也不解决问题。另外TS和VTSB是悬空的（因为没用到温度探测，配置寄存器里已关闭）。

请大牛们帮忙分析一下！小弟不胜感激！

Hi,Guanlin,

    请问测试的时候 ZEDE 是否拉低？

是的，通过10拉低和1K拉低都试过了。

您可以看看我的原理图和PCB吗

问题貌似解决了，是SCLK SDATA没有接1M电阻下拉造成的，接上下拉后就OK了。

但为什么没有进入编程状态的情况下，SCLK SDATA也会干扰芯片呢？