ic compiler中probe card坐标如何定义？

写清楚行么， 这谁看得懂

现在fouction测试有一种方法是用probe card,坐标已经定好的。然后我们的芯片io pad中心点要与probe card的中心点贴合，那么在ic compiler中这个坐标如何给呢?

可以写脚本，抓bondpad的位置，然后取中心点， 得到坐标

io pad中心点一般不是io pad cell的中心点，有个偏移量，
1-得到每个pad cell的center，
2-根据pad cell的朝向计算不同偏移量，找到io pad 中心点坐标

probe card已经定义坐标，就是pad要摆放的坐标，会有文档给出坐标值。是如何根据这些坐标摆放cell的问题呢?不是求坐标

学习一下。

cp坐标不是绝对的，只是建议的位置，
只要针能扎到就行，然后pad order根据这个就行，

不錯的資料喔 謝謝分享