可以讨论下数字后端对良品率的影响吗？
时间：10-02
整理：3721RD
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l量产的芯片通不过硬件测试，出现死机之类的情况。不知道小编有米有相关的资料可以介绍下，工艺或者后端设计上的不完善对最终的芯片产生甚么样的影响。
我没资料！
支持一下
后端设计对良率有较大的影响，在layout是要多作考虑
前段影响work,后段主要影响良率。
dddddddddddddddddddddddd
学习了，前后端的影响
IR-Drop，SI都有影响吧
时间长的话，EM问题也会出现
这个是功能性问题吧，哪里是良率的问题，问题不小了，