微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 研发问答 > 微电子和IC设计 > IC后端设计交流 > scan mode 的时序修复流程怎么弄,没搜到,麻烦了

scan mode 的时序修复流程怎么弄,没搜到,麻烦了

时间:10-02 整理:3721RD 点击:

新手请教:
现在是写了Scan mode和function mode 的两个约束文件~
然后分别迭代来修复两个模式的时序。
问题:scan mode下 除了scan链的scanIn和scanOutput ,其他的input ports和output ports也报in2reg和reg2out的违例,请问这些在scan模式下也需要修复么?
请问scan mode的一般时序修复流程是怎么弄的?怎么处理,谢谢


http://bbs.eetop.cn/viewthread.php?tid=412323&highlight=scan%2Bencounter
http://bbs.eetop.cn/viewthread.php?tid=320507&highlight=scan%2Btiming

分别迭代是什么意思?没用MultiMode?

没有用MMMC模式,我觉得反复load constraint来回修几次,也能两个模式的时序都修好。现在就是上面的问题没搞明白

顶上去,求指导

scan mode下的constraint,对非scan的input和output怎么约束?谢谢,非常感谢

其他的input ports和output ports不需要关心,直接 set_false_path 好了

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top