DFT插入 扫描链后 ，是用serial pattern进行仿真出错

用 parallel pattern仿真无错，用serial pattern在第一个阶段，就是纯 scan in，然后 scan out阶段就出错了
一级一级的往前倒着查，总算找到了出错的寄存器，出错原因如下图，发现中间有一个寄存器的功能不对了，输入和输出同时发生，成了buffer了。仿真是delay mode zero的。

另外，我发现只要插入了时钟门控的ICG cell后，扫描链就一定出现上面的情况，去掉就没有 。
然后始终报告内部有一个 non transparent latch。
搞了几天了，没解决这个问题，求助大家，谢谢了。

头大了一圈 ~·

serial 仿真经常出现timing的问题，你把触发器设成单位delay 比方说1ns，所有组合逻辑和clock gating都设成0 delay。
这是前仿的做法，如果后仿标入sdf就没有timing问题了若有可能就是time step设小点，当然前提是pt已经把hold修干净了。

ICG在test shift时，需要一直是时钟使能的状态。

好的，我明天试试，谢谢了

但是这个ICG不在扫描链上得哇，可是问题是只要他存在了，仿真就𣎴对了

谢谢了，用你的方法成功解决了困扰我的这个问题，拜谢 。