scan at-speed, mbist at-speed, 和 jtag SDC

牛人说句话啊！

scan at-speed ： scan capture mode时的测试速度与function时速度相同
mbist at-speed ：与上面的类似
jtag SDC ：jtag 的约束 ?

谢谢陈老大。

谈谈我个人的看法吧。
scan at-speed : 是测的迟延故障，检测电路中有没有时序上的违反
mbist at-speed：是测的MEM的interface周围的电路有没有时序违反，也就是说，能不能按实际设计的时钟写和读
JTAG：boundary scan

at_speed 模式，主要是用来测试transition的