微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 研发问答 > 微电子和IC设计 > IC后端设计交流 > 求助,关于综合write_test_protocol时出现的问题

求助,关于综合write_test_protocol时出现的问题

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
有遇到这种情况吗?一个大约150万门的电路。综合过程很顺利,没有报错。
但是在write_test_protocol的时候,Dc自动异常关闭,Linux Teminal显示segmentation fault (core dumped),最后目录下并未写出test protocol。并且声称core文件,debug打开,没有找到什么有用的信息。只知道segmentation fault 这个错误时因为非法访问内存引起的,求解决方案。能顺利写出test_protocol文件

是DFTC么, 用 -64 位如何

DCcomplier。64位是啥?

求助各位高手啊

启动的时候 -64 ,即启动64位的,

内存使用超过4g的话,得用64bit的。

还是不行。崩溃啊

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top