内建自测试和扫描链测试

Q1.请问内建自测试和扫描链测试是分开测试还是可以同时测试?
Q2.如果是分开测试，那么应该是先进行内建自测试还是扫描链测试?
Q3.两种测试都是流片后封装前测试的把?
I am new to dft ，欢迎畅所欲言！

自顶一个。

个人理解是，scan test 和mbist test是分开测试的，而且两者是不兼容的，有我无他，有他无我的。
封装前后都要测试的